功率容量測試裝置及功放單元制造方法及圖紙

本實用新型專利技術公開了一種功放單元及包含該功放單元的功率容量測試裝置，該裝置包括多路射頻開關、主機MCU及多個功放單元，每個功放單元對應待測器件的一個工作頻段，并分別連接在多路射頻開關與待測器件之間，主機MCU根據待測頻段控制多路射頻開關的通斷，使與待測頻段對應的功放單元導通，信號源的信號經多路射頻開關進入功放單元，依次經功放單元的微帶功分器、調幅調相器、推動級單元、多路末級放大器、空氣微帶合路器和隔離器后，功率被放大到待測功率并輸出至待測器件，從而根據待測器件的工作狀態判斷其功率容量，為雙工器、合路器、延時濾波器和隔離器等器件的可靠性試驗及評估提供了一種高效率、高集成、適用性廣的測試平臺。（*該技術在2023年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

【技術保護點】
一種功率容量測試裝置，其特征在于，包括多路射頻開關、主機MCU和至少一個功放單元，每個所述功放單元對應待測器件的一個工作頻段，并分別接在所述多路射頻開關和所述待測器件之間；所述功放單元包括依次相連的微帶功分器、調幅調相器、推動級單元、多路末級放大器、空氣微帶合路器和隔離器，以及MCU，所述微帶功分器通過所述多路射頻開關接信號源，所述隔離器接所述待測器件，所述MCU與所述主機MCU相連；所述主機MCU按照接收到的設置信息向所述多路射頻開關發送通斷指令，使與所述待測器件的待測頻段對應的功放單元導通，其他功放單元截止，所述主機MCU還按照接收到的設置信息向所述MCU發送控制信息，所述MCU按照接收到的控制信息，分別向所述調幅調相器、推動級單元和多路末級放大器發送相應的控制指令，使所述信號源的信號經所述隔離器輸出后，功率被放大到所述待測器件的待測功率。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：李合理，張磊，李遠生，
申請(專利權)人：京信通信系統中國有限公司，
類型：實用新型
國別省市：