一種超導薄膜磁熱特性測試用可視化低溫杜瓦系統(tǒng)技術方案

本實用新型專利技術公開了一種超導薄膜磁熱特性測試用可視化低溫杜瓦系統(tǒng)，包括密封式配合安裝的低溫密封容器和GM制冷機，配合設置在所述低溫密封容器內部的真空室、位于真空室上方的GM制冷機連接頭、用于放置的待測超導樣品薄膜的樣品放置架、以及連接在GM制冷機連接頭與樣品放置架之間的傳熱組件，分別配合安裝在所述低溫密封容器的上端和下端的外部光學測試系統(tǒng)和激光脈沖器，以及包覆在所述低溫密封容器外圍的磁體。本實用新型專利技術所述超導薄膜磁熱特性測試用可視化低溫杜瓦系統(tǒng)，可以克服現(xiàn)有技術中使用不方便和應用前景差等缺陷，以實現(xiàn)使用方便和應用前景好的優(yōu)點。（*該技術在2023年保護過期，可自由使用*）

【技術實現(xiàn)步驟摘要】

【技術保護點】
一種超導薄膜磁熱特性測試用可視化低溫杜瓦系統(tǒng)，其特征在于，包括密封式配合安裝的低溫密封容器和GM制冷機，配合設置在所述低溫密封容器內部的真空室、位于真空室上方的GM制冷機連接頭、用于放置的待測超導樣品薄膜的樣品放置架、以及連接在GM制冷機連接頭與樣品放置架之間的傳熱組件，分別配合安裝在所述低溫密封容器的上端和下端的外部光學測試系統(tǒng)和激光脈沖器，以及包覆在所述低溫密封容器外圍的磁體。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：張興義，劉偉，周軍，周又和，
申請(專利權)人：蘭州大學，
類型：實用新型
國別省市：