CCD攝像機校準對位方法技術

本發明專利技術涉及一種CCD攝像機校準對位方法。該方法使用到對位平臺和兩個CCD攝像機，校準時標準樣品固定于對位平臺上，對位平臺在水平面上做定量的偏移和旋轉，兩個CCD攝像機記錄每次運動后Mark點所在坐標，通過計算Mark點的變化，得出CCD攝像機的坐標系與對位平臺坐標系的轉換關系；兩個CCD攝像機校準完成之后，即可以利用轉換關系對待加工的產品進行對位。本方法在校準時控制對位平臺平移、旋轉，并使用兩個CCD攝像機分別捕捉Mark點的變化，計算得出坐標轉換關系；對位時兩個CCD攝像機直接捕捉產品Mark點位置坐標，通過一系列計算后得出實際偏差量，然后進行對準；校準與對位的過程均不需要移動CCD攝像機移動，減少了精度損失，提高了校準和對位的精度和速度。

【技術實現步驟摘要】
【專利摘要】本專利技術涉及一種CCD攝像機校準對位方法。該方法使用到對位平臺和兩個CCD攝像機，校準時標準樣品固定于對位平臺上，對位平臺在水平面上做定量的偏移和旋轉，兩個CCD攝像機記錄每次運動后Mark點所在坐標，通過計算Mark點的變化，得出CCD攝像機的坐標系與對位平臺坐標系的轉換關系；兩個CCD攝像機校準完成之后，即可以利用轉換關系對待加工的產品進行對位。本方法在校準時控制對位平臺平移、旋轉，并使用兩個CCD攝像機分別捕捉Mark點的變化，計算得出坐標轉換關系；對位時兩個CCD攝像機直接捕捉產品Mark點位置坐標，通過一系列計算后得出實際偏差量，然后進行對準；校準與對位的過程均不需要移動CCD攝像機移動，減少了精度損失，提高了校準和對位的精度和速度。【專利說明】CCD攝像機校準對位方法
本專利技術涉及機器視覺檢測領域，尤其涉及一種CCD攝像機校準對位方法。
技術介紹
在錫膏印刷與貼合行業中，經常需要到高精度重復對位，特別是隨著近年來，手機市場的火熱，在玻璃印刷與手機膜貼合中，提出了更高的精度與效率要求。傳統的銷釘、夾具定位已經很難達到工藝要求。人們逐漸將目光轉移到機器視覺自動對位上，開始使用一個CCD在產品上的兩個MarK點之間移動，在移動過程中，難以避免機械運動帶來的誤差，造成校準三個坐標系轉換存在誤差，直接影響到校準和對位的精度，而且需要等待CCD從對角的一頭，移動到另一頭，速度較低。
技術實現思路
本專利技術的目的在于為克服現有技術的缺陷，而提供一種CCD攝像機校準對位方法，以提高校準和對位的精度和提高對位的速度。為實現上述目的，本專利技術采用以下技術方案:一種CXD攝像機校準對位方法，包括以下步驟:SI，標準樣品固定于對位平臺上，標準樣品上帶有Mark點，對位平臺上方有兩個CCD攝像機，控制單元控制對位平臺和兩個CCD攝像機開始工作；S2，兩個CCD攝像機的校準:對位平臺在水平面上做定量的偏移和旋轉，待對位平臺運動停止后，兩個CXD攝像機記錄對位平臺的每次運動后標準樣品的Mark點所在坐標，通過計算Mark點的變化，得出CXD攝像機的坐標系與對位平臺坐標系的轉換關系；S3，產品加工前的對位:產品在生產線上進入對位平臺，CXD攝像機獲取產品的Mark點坐標，移動對位平臺使得產品向基準位置對齊。進一步地,步驟S2包括以下步驟: S21,控制對位平臺回原點,(XD攝像機搜索標準樣品的Mark點,記錄當前Mark點坐標，記為點M0 ；S22，控制對位平臺在水平面的X方向移動1_，運動停止、圖像穩定之后，C⑶攝像機搜索標準樣品的Mark點,記錄當前Mark點坐標,記為點M1,將對位平臺實際移動距離除以點M1到點Mtl的變化距離，得出在水平面的X方向上對位平臺的實際距離與CCD攝像機的像素之間的比例；S23，對位平臺回原位，控制對位平臺在水平面的Y方向(Y方向與X方向垂直)移動Imm,運動停止、圖像穩定之后，CCD攝像機搜索標準樣品的Mark點,記錄當前Mark點坐標，記為點M2,將對位平臺實際移動距離除以點M2到點M0的變化距離，得出在水平面的Y方向上對位平臺的實際距離與CXD攝像機的像素之間的比例；S24，對位平臺回原位，控制對位平臺在水平面上順時針旋轉0.2度，運動停止、圖像穩定之后，(XD攝像機搜索標準樣品的Mark點,記錄當前Mark點坐標,記為點M3 ；S25，控制對位平臺在水平面上逆時針旋轉0.4度，運動停止、圖像穩定之后，CXD攝像機搜索標準樣品的Mark點，記錄當前Mark點坐標,記為點M4,通過Mc M3和M4的坐標值計算出旋轉中心。進一步地，在步驟S2操作過程中，一個CXD攝像機搜索一個Mark點，兩個CXD攝像機得到的Mark點坐標分別單獨進行運算，分別得出兩個CCD攝像機的坐標系與對位平臺坐標系的轉換關系。進一步地，步驟S3具體過程為:(XD攝像機校準完成之后，兩個CXD攝像機保持不動，待加工的產品在生產線上進入對位平臺，CXD攝像機獲取Mark點位置并轉換成平臺坐標系上Mark點的坐標，與基準位置相比較得出偏差量，然后移動或旋轉對位平臺使得Mark點對齊基準位置。進一步地，在步驟S3之后還包括以下步驟:S4，如果步驟S3對位成功，則對產品進行下一道工序；如果步驟S3對位失敗，則將對位平臺恢復原位重新開始對位。本專利技術與現有技術相比的有益效果是:(I)本專利技術的方法在校準時使用了兩個CXD攝像機來匹配標準樣品上的Mark點，控制對位平臺平移、旋轉，并使用CCD攝像機捕捉標準樣品上Mark點的變化關系，計算得出坐標轉換關系；在對位時兩個CCD直接捕捉產品Mark點位置坐標，通過一系列計算后得出實際偏差量，然后進行對準；校準與對位的過程均避免了使用一個CCD攝像機時需要移動CCD攝像機移動過程中的精度損失，從而提聞了校準和對位的精度，還提聞了對位和校準的速度。(2)本專利技術中在校準時通過控制對位平臺在水平面上移動和旋轉，用CXD攝像機捕捉標準樣品上Mark點的變化，通過簡單的計算得出CCD攝像機坐標系與對位平臺坐標系的轉換關系，大大簡化了 CCD攝像機標定校準的步驟，也縮短了 CCD攝像機標定校準所消耗的時間。【專利附圖】【附圖說明】圖1為本專利技術實施例的流程圖【具體實施方式】為了更充分理解本專利技術的
技術實現思路
，下面結合具體實施例對本專利技術的技術方案作進一步介紹和說明。本專利技術實施例的流程簡圖如圖1所示。本專利技術的CCD攝像機校準對位方法，包括了以下步驟:步驟SI，標準樣品固定于對位平臺上，標準樣品上帶有Mark點，對位平臺上方有兩個CCD攝像機，控制單元控制對位平臺和兩個CCD攝像機開始`工作；步驟S2，兩個CCD攝像機的校準:對位平臺在水平面上做定量的偏移和旋轉，待對位平臺運動停止后，兩個CXD攝像機記錄對位平臺的每次運動后標準樣品的Mark點所在坐標，通過計算Mark點的變化，得出CXD攝像機的坐標系與對位平臺坐標系的轉換關系；步驟S3，產品加工前的對位:產品在生產線上進入對位平臺，CXD攝像機獲取產品的Mark點坐標，移動對位平臺使得產品向基準位置對齊；步驟S4，如果步驟S3對位成功，則對產品進行下一道工序；如果步驟S3對位失敗，則將對位平臺恢復原位重新開始對位。具體地,步驟S2包括以下步驟:步驟S21,控制對位平臺回原點，(XD攝像機搜索標準樣品的Mark點，記錄當前Mark點坐標,記為點M0 ；步驟S22，控制對位平臺在水平面的X方向移動1_，運動停止、圖像穩定之后，CXD攝像機搜索標準樣品的Mark點，記錄當前Mark點坐標,記為點M1,將對位平臺實際移動距離除以點M1到點Mtl的變化距離，得出在水平面的X方向上對位平臺的實際距離與CCD攝像機的像素之間的比例；步驟S23，對位平臺回原位，控制對位平臺在水平面的Y方向(Y方向與X方向垂直)移動1_，運動停止、圖像穩定之后，(XD攝像機搜索標準樣品的Mark點,記錄當前Mark點坐標，記為點M2，將對位平臺實際移動距離除以點M2到點M0的變化距離，得出在水平面的Y方向上對位平臺的實際距離與CXD攝像機的像素之間的比例；步驟S24，對位平臺回原位，控制對位平臺在水平面上順時針旋轉0.2度，運動停止、圖像穩定之后，(XD攝像機搜本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種CCD攝像機校準對位方法，其特征在于，包括以下步驟：S1，標準樣品固定于對位平臺上，標準樣品上帶有Mark點，對位平臺上方有兩個CCD攝像機，控制單元控制對位平臺和兩個CCD攝像機開始工作；S2，兩個CCD攝像機的校準：對位平臺在水平面上做定量的偏移和旋轉，待對位平臺運動停止后，兩個CCD攝像機記錄對位平臺的每次運動后標準樣品的Mark點所在坐標，通過計算Mark點的變化，得出CCD攝像機的坐標系與對位平臺坐標系的轉換關系；S3，產品加工前的對位：產品在生產線上進入對位平臺，CCD攝像機獲取產品的Mark點坐標，移動對位平臺使得產品向基準位置對齊。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：張宜飛，
申請(專利權)人：深圳市創科自動化控制技術有限公司，
類型：發明
國別省市：