【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
【專利摘要】，屬于半透明介質(zhì)輻射特性測量
。本專利技術(shù)為了解決半透明介質(zhì)輻射特性測量中，單次測量信息的測量結(jié)果誤差較大的問題。它基于多頻調(diào)制激光輻照技術(shù)，利用多頻調(diào)制激光照射具有一定黑度涂層的半透明介質(zhì)表面，通過改變激光調(diào)制頻率、激光入射角度、試件厚度及試件涂層黑度來獲得多組邊界處的頻域半球反射信號(hào)，基于這些反射信號(hào)結(jié)合逆問題求解技術(shù)獲得半透明介質(zhì)的輻射物性參數(shù)。本專利技術(shù)用于測量半透明介質(zhì)輻射特性。【專利說明】
本專利技術(shù)涉及，屬于半透明介質(zhì)輻射特性測量
。
技術(shù)介紹
半透明介質(zhì)在工業(yè)生產(chǎn)、生物醫(yī)學(xué)、信息通訊等科學(xué)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。研究半透明介質(zhì)的物性參數(shù)在許多領(lǐng)域具有重要的現(xiàn)實(shí)意義，例如無損檢測、激光加工制造(如激光切割玻璃、液晶面板等)。近年來，隨著航空航天、紅外探測、目標(biāo)與環(huán)境的紅外特性、激光、電子器件、生物醫(yī)學(xué)等現(xiàn)代高新技術(shù)的飛速發(fā)展，了解半透明介質(zhì)熱物性參數(shù)變得尤為重要。因此進(jìn)行半透明介質(zhì)熱輻射物性以及相關(guān)學(xué)科的研究對(duì)于軍用和民用領(lǐng)域均具有重要意義。 吸收系數(shù)和散射系數(shù)是表征半透明介質(zhì)熱輻射物性的重要參數(shù)。深入理解此熱物性參數(shù)并對(duì)其進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測量及理論分析，對(duì)于金屬加工、醫(yī)學(xué)成像技術(shù)、無損激光治療技術(shù)、粒子探測研究、紅外遙感技術(shù)、材料科學(xué)以及環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域具有重要意義和應(yīng)用價(jià)值。頻域方法中可以使用連續(xù)光源和探測器，它在入射脈沖激光照射被測量樣品一次后，可以分解出很多頻域下的光信號(hào)，也就可以認(rèn)為一次探測得到了多組信息。實(shí)際測量過程中，實(shí)驗(yàn)設(shè)備存在一定的測量誤差，而且某些工況測量信號(hào)比較微弱，單一的信息不能完成輻射物性的...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種基于多頻調(diào)制激光輻照的半透明介質(zhì)輻射特性測量方法，其特征在于，它包括以下步驟：步驟一：設(shè)定采樣次數(shù)為N，N為大于或者等于2的自然數(shù)；步驟二：取厚度為Li的待測半透明介質(zhì)試件，該待測半透明介質(zhì)試件的一側(cè)均勻涂有黑度為εi的不透明涂層，采用角頻率為ωi的激光束照射半透明介質(zhì)試件的無涂層一側(cè)，該激光束與半透明介質(zhì)試件的法向成θi角度，使用探測器測量獲得N組半透明介質(zhì)試件表面邊界上的頻域復(fù)半球反射信號(hào)R^i,mea(ωi);i=1,2,3,......,N;步驟三：利用逆問題算法，設(shè)定半透明介質(zhì)試件的吸收系數(shù)κa和散射系數(shù)κs的取值；步驟四：根據(jù)吸收系數(shù)κa和散射系數(shù)κs的取值，通過對(duì)輻射傳輸方程的求解，獲得計(jì)算域內(nèi)的N個(gè)輻射強(qiáng)度場；步驟五：利用步驟四中計(jì)算獲得的N個(gè)輻射強(qiáng)度場，計(jì)算獲得半透明介質(zhì)試件的無涂層一側(cè)邊界上的頻域復(fù)半球反射信號(hào)估計(jì)值R^i,est(ωi)=2π∫π/2πI^i(θ,ωi)I^0cosθsinθdθ,式中是角頻率為ωi的激光束的輻射強(qiáng)度值，為角頻...
【技術(shù)特征摘要】
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：齊宏，任亞濤，張彪，孫雙成，阮立明，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：哈爾濱工業(yè)大學(xué)，
類型：發(fā)明
國別省市：
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