一種圖像壞點(diǎn)校正方法及圖像傳感器技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)公開一種圖像壞點(diǎn)校正方法及圖像傳感器，主要為了提供一種高效、精確校正圖像壞點(diǎn)的方法及圖像傳感器。本發(fā)明專利技術(shù)圖像壞點(diǎn)校正方法，以待檢測(cè)像素點(diǎn)為中心像素點(diǎn)建立5×5Bayer色彩矩陣；首先對(duì)所述5×5Bayer色彩矩陣的中心像素點(diǎn)的所述周圍像素點(diǎn)進(jìn)行壞點(diǎn)校正；以所述中心像素點(diǎn)的所述周圍像素點(diǎn)為參考點(diǎn)，判斷所述中心像素點(diǎn)的色值與所述周圍像素點(diǎn)的差值是否均大于第一閾值，如果是，則該中心像素點(diǎn)為壞點(diǎn)，如果否，則該中心像素點(diǎn)為正常點(diǎn)；對(duì)判定為壞點(diǎn)的中心像素點(diǎn)進(jìn)行圖像校正。本發(fā)明專利技術(shù)，壞點(diǎn)判斷精確，速度快，壞點(diǎn)校正效果好。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種圖像壞點(diǎn)校正方法，其特征在于：該方法包括：以待檢測(cè)像素點(diǎn)為中心像素點(diǎn)建立5×5Bayer色彩矩陣；根據(jù)所述中心像素點(diǎn)隔行隔列的相同顏色的周圍像素點(diǎn)的色值變化，對(duì)所述5×5Bayer色彩矩陣的中心像素點(diǎn)的所述周圍像素點(diǎn)進(jìn)行壞點(diǎn)判斷；對(duì)判定為壞點(diǎn)的像素點(diǎn)進(jìn)行校正；以所述中心像素點(diǎn)的所述周圍像素點(diǎn)為參考點(diǎn)，判斷所述中心像素點(diǎn)的色值與所述周圍像素點(diǎn)的差值是否均大于第一閾值，如果是，則該中心像素點(diǎn)為壞點(diǎn)，如果否，則該中心像素點(diǎn)為正常點(diǎn)；對(duì)判定為壞點(diǎn)的中心像素點(diǎn)進(jìn)行圖像校正。

【技術(shù)特征摘要】

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：莊永軍，吳乘躍，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：旗瀚科技有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：