一種固體激光晶體動態熱焦距測量方法與裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術公開了一種固體激光晶體動態熱焦距測量方法與裝置，該測量方法是將線偏振光往返通過固體激光晶體形成的熱透鏡，利用組合光學系統成像的方法實現固體激光晶體動態熱焦距的精確測量；該測量裝置包括反射鏡A(4)、四分之一波片(5)、反射鏡B(6)、被測固體激光晶體(7)、輸出鏡(8)、反射鏡C(9)、偏振分束鏡(10)、光闌B(11)、擴束鏡(12)、指示光源(13)、衰減濾光片(14)、CCD探測單元(15)和功率計(16)組成。與現有測量方法相比，本發明專利技術的優點在于：簡單易行，測量精度高，既適用于側面泵浦固體激光器又適用于端面泵浦固體激光器中固體激光晶體熱焦距的測量。

【技術實現步驟摘要】
【專利摘要】本專利技術公開了一種固體激光晶體動態熱焦距測量方法與裝置，該測量方法是將線偏振光往返通過固體激光晶體形成的熱透鏡，利用組合光學系統成像的方法實現固體激光晶體動態熱焦距的精確測量；該測量裝置包括反射鏡A(4)、四分之一波片(5)、反射鏡B(6)、被測固體激光晶體(7)、輸出鏡(8)、反射鏡C(9)、偏振分束鏡(10)、光闌B(11)、擴束鏡(12)、指示光源(13)、衰減濾光片(14)、CCD探測單元(15)和功率計(16)組成。與現有測量方法相比，本專利技術的優點在于：簡單易行，測量精度高，既適用于側面泵浦固體激光器又適用于端面泵浦固體激光器中固體激光晶體熱焦距的測量。【專利說明】一種固體激光晶體動態熱焦距測量方法與裝置
本專利技術涉及一種固體激光晶體動態熱焦距測量方法與裝置，屬于光學測試技術、激光
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技術介紹
固體激光器在動態運轉時，大量的泵浦能量轉化成廢熱并沉積在激光介質內部，在冷卻不均勻的外部條件下，激光介質中心溫度高，邊緣溫度低，等效于一個厚透鏡，即熱透鏡，并且隨著泵浦功率的變化熱透鏡的焦距也在相應變化。熱透鏡效應制約著激光器輸出激光的光束質量、穩定性等各項性能參數，因此對激光介質熱透鏡焦距的精確測量是激光器設計的關鍵。 在關于激光介質熱焦距的闡述中通常有靜態熱焦距和動態熱焦距兩種，靜態熱焦距與動態熱焦距存在較大的差異，靜態熱焦距無法反映激光器動態運轉的實際狀況，因此，精確測量激光介質動態熱焦距對激光器諧振腔設計具有重要的指導意義。最具有代表性的激光介質動態熱焦距測量方法-臨界腔法，它是基于不同腔長狀態下，通過增加泵浦功率直至激光器輸出功率曲線存在拐點，從而獲得激光晶體的動態熱焦距，測量誤差較大，且測量步驟繁瑣。
技術實現思路
本專利技術的技術解決方案如下: 一種固體激光晶體動態熱焦距測量方法，該方法將線偏振光往返通過固體激光晶體形成的熱透鏡，即第一次經過的熱透鏡和第二次經過的熱透鏡構成一個組合光學系統，利用組合光學系統成像的方法實現固`體激光晶體動態熱焦距的精確測量。 本
技術實現思路
依據的原理:如附圖1所示，平行光經過光闌Al后進入透鏡A2與透鏡B3構成組合光學系統。設透鏡A2焦距H ’，透鏡B3焦距為f2’，組合焦距f’，若 /i ~ fi(I) 透鏡A2與透鏡B3間距d = Zd1(2) L1f = c￡2 + d3(3) 根據光闌Al半徑r，通過幾何作圖來獲得,而尸=Uh — Uf(4) 根據組合光學系統成像關系Uf = f (1-(5) 綜合(5)式，從而計算出透鏡A2與透鏡B3的焦距 Ct _ aP _—(d2+rf3.)] 1 — f-Lp — LB-2{d2+d3) 如附圖2所示，本專利技術提供的一種固體激光晶體動態熱焦距測量裝置包括反射鏡A4、四分之一波片5、反射鏡B6、被測固體激光晶體7、輸出鏡8、反射鏡C9、偏振分束鏡10、光闌BI 1、擴束鏡12、指示光源13、衰減濾光片14、CXD探測單元15和功率計16組成；氦氖激光器13發出的激光束經過擴束鏡12擴束后入射到偏振分束鏡10的對角面上，分成偏振態相互垂直的P向偏振光和s向偏振光，s向偏振光被偏振分束鏡10的對角面反射至偏振分束鏡10的上方而偏離原光路，p向偏振光透過偏振分束鏡10,并依次穿過反射鏡C9、輸出鏡8、被測固體激光晶體7、反射鏡B6和四分之一波片5,在反射鏡A4表面被反射回來，由于此P向偏振光往返兩次通過四分之一波片5，其偏振方向旋轉了 90度，變成了 s向偏振光，此s向偏振光而后依次穿過反射鏡B6、被測固體激光晶體7、輸出鏡8和反射鏡C9,在偏振分束鏡10的對角面向偏振分束鏡10的下方反射，穿過衰減濾光片14后被CCD探測單元15接收，CXD探測單元15最后顯示探測到光斑尺寸。 所述的反射鏡A4為平面反射鏡，表面鍍制Al的高反射膜，用于將0度入射的Al光反射回原光路； 所述的四分之一波片5為石英材質\ I波長的四分之一波片，表面鍍制\ I增透膜，用于將\ I光的偏振方向旋轉45度； 所述的反射鏡B6與被測固體激光晶體7和輸出鏡8構成一個固體激光器諧振腔，對入I透射率高于70%，該固體激光器輸出的激光波長為\ 2 ； 所述的反射鏡C9為二向分色的平面鏡，在光路中與光軸呈45度放置，對45度入射的入I波長光增透，對45度入射的X 2波長高反射，用于阻止X 2波長激光進入到其右方的光路； 所述的偏振分束鏡10為偏振分光棱鏡，其對\ I波長的s向偏振光的反射率聞于99%,對P向偏振光透射率高于99%,各通光面上鍍制\ I波長光的增透膜； 所述的孔闌Bll是中間有孔的金屬板，用于阻擋大于孔徑尺寸的光束； 所述的擴束鏡12為倒置的伽利略望遠系統，擴束倍率為10倍，用于準直指示光源13發出的光束； 所述的指示光源13優選氦氖激光器、半導體激光器或全固態激光器，發出光波長為入I ； 所述的衰減濾光片14為吸收型窄帶濾光片，表面鍍制\ I波長的窄帶增透膜，帶寬為±5nm,自身對入l±5nm范圍的光吸收率為30%，對入l±5nm之外的光高反射； 所述的CXD探測單元15由CXD相機、圖象采集處理器及顯示器構成，用于處理和顯示采集到的指示光光斑尺寸； 所述的功率計16為量熱式探測器，用于回收并測量\ 2波長激光的功率。 本專利技術的測量步驟如下: 1)開啟指示光源13和CCD探測單元15； 2)開啟被測固體激光晶體4的外界泵浦源； 3)在某一泵浦功率下，改變光闌Bll尺寸，直到CCD探測單元15觀測到的光斑恰好發生變化為止，并記錄此時光闌Bll半徑r ; 4)軸向移動反射鏡A4，使CCD探測單元15的探測面尺寸大于所接收的光斑尺寸； 5)改變距離d3的大小，直至CXD探測單元15接收到的光斑達到最小值； 6)根據附圖1所示的幾何光路作圖尋找組合系統主面位置14； 7)根據公式(5)和(6)計算出被測固體激光晶體7的動態熱焦距。【專利附圖】【附圖說明】 圖1是組合光學系統光路示意圖。 圖2是測量光路圖。 圖中:1-光闌A，2-透鏡A，3-透鏡B，4-反射鏡A，5-四分之一波片，6-反射鏡B，7-被測固體激光晶體，8-輸出鏡，9-反射鏡C，10-偏振分束鏡，11-光闌B，12-擴束鏡，13-指示光源，14-衰減濾光片，15-CCD探測單元，16-功率計。【權利要求】1.一種固體激光晶體動態熱焦距測量方法，其特征在于該方法將線偏振光往返通過固體激光晶體形成的熱透鏡，利用組合光學系統成像的方法獲得固體激光晶體動態熱焦距:1 —產4 — 4-2(d2+d3)。2.如權利要求1所述的一種固體激光晶體動態熱焦距測量方法，其特征在于該方法包括如下測量步驟: 1)開啟指示光源(13)和C⑶探測單元(15); 2)開啟被測固體激光晶體(7)的外界泵浦源； 3)在某一泵浦功率下，改變光闌B(11)尺寸，直到CCD探測單元(15)觀測到的光斑恰好發生變化為止，并記錄此時光闌B (11)半徑r; 4)軸向移動反射鏡A(4 )，使CCD探測單元(15)的探測面尺寸大于所接收的光斑尺寸； 5)改變距離d3的大小，直至CXD探測單元(15)接收到的光斑達到最小值本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種固體激光晶體動態熱焦距測量方法，其特征在于該方法將線偏振光往返通過固體激光晶體形成的熱透鏡，利用組合光學系統成像的方法獲得固體激光晶體動態熱焦距：???????????????????????????????????????????????????。651913dest_path_image001.jpg

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：王菲，焦正超，車英，羅寬，王曉華，田明，魏志鵬，方鉉，
申請(專利權)人：長春理工大學，
類型：發明
國別省市：