一種串聯電容補償裝置二次設備抗電磁干擾能力的檢測方法制造方法及圖紙

本發明專利技術涉及串聯電容補償裝置二次設備相關技術領域，特別是一種串聯電容補償裝置二次設備抗電磁干擾能力的檢測方法，包括：斷開所述串聯電容補償裝置的電容器橋臂支路與串聯電容器補償裝置低壓母線的連接；短接其中一個工作支路作為待檢測干擾支路；從所述電容器橋臂兩端并入可連續調整的高頻電壓源，向輸入試驗電流至預設試驗電流值；獲取所述電容器橋臂支路和所有工作支路的干擾感應電流，以及待檢測干擾支路的輸入輸出端口的干擾感應電壓；計算待檢測干擾支路的工頻干擾電流和干擾幅值。本發明專利技術通過對現場的串聯電容補償裝置進行小范圍的改動，實現了在現場對串聯電容補償裝置二次設備抗電磁干擾能力進行檢測。

【技術實現步驟摘要】
【專利摘要】本專利技術涉及串聯電容補償裝置二次設備相關
，特別是，包括：斷開所述串聯電容補償裝置的電容器橋臂支路與串聯電容器補償裝置低壓母線的連接；短接其中一個工作支路作為待檢測干擾支路；從所述電容器橋臂兩端并入可連續調整的高頻電壓源，向輸入試驗電流至預設試驗電流值；獲取所述電容器橋臂支路和所有工作支路的干擾感應電流，以及待檢測干擾支路的輸入輸出端口的干擾感應電壓；計算待檢測干擾支路的工頻干擾電流和干擾幅值。本專利技術通過對現場的串聯電容補償裝置進行小范圍的改動，實現了在現場對串聯電容補償裝置二次設備抗電磁干擾能力進行檢測。【專利說明】—種串聯電容補償裝置二次設備抗電磁干擾能力的檢測方法
本專利技術涉及串聯電容補償裝置二次設備相關
，特別是ー種串聯電容補償裝置二次設備抗電磁干擾能力的檢測方法。
技術介紹
串聯電容器補償裝置可提高系統輸電容量和穩定性，主要應用在超高壓及以上電壓等級，額定容量達到幾百Mvar，其工作原理見圖1。串聯電容器補償裝置設備安裝位置高(達十幾米)，設備數量多，一次設備和二次設備混合布置，空間電磁環境惡劣。安裝在串聯電容器補償裝置上保護用測量系統及火花間隙觸發系統等二次設備，是串補的關鍵電子設備，因電磁干擾導致保護誤動對主設備的安全穩定運行影響較大，特別是線路短路、拉合刀閘、串補的電容器放電等產生的高頻干擾，可能導致平臺保護誤動作和火花間隙誤觸發，甚至損壞測量系統及火花間隙觸發系統等二次設備的電子元件，造成串補永久閉鎖。目前，串聯電容器補償裝置上保護用測量系統及火花間隙觸發系統等二次設備的抗電磁干擾能力測試按通用的控制保護標準在試驗室測試，在高頻干擾和浪涌沖擊方面與實際エ況存在較大差距，型式試驗還要求在試驗室模擬短路大電流(如40kA/4s)的エ頻干擾和高頻放電干擾試驗，大電流試驗非常困難，還不能等效平臺設備實際布置下電磁環境，也無法評估電子設備的現場抗干擾能力。通常的做法是:在串補進行系統調試時，通過線路單相對地短路試驗(短路電流達到10kA-40kA)，檢查串補的保護動作情況和測量通道的電流波形，間接判斷平臺二次設備的抗強電磁干擾能力，試驗結束后還檢查電子設備的外觀是否異常。基于以上原理，通過分析保護誤動、電流干擾量超標和元器件外觀異常，可以檢驗串聯電容器補償裝置二次設備現場抗強電磁干擾能力，但現場試驗為系統電源，電壓等級高、電流大，試驗難度高，對系統影響較大，多次試驗可能損害主設備的壽命，通常只選取三相中的一相僅進行一次短路試驗，甚至某些情況下還不具備短路試驗的條件，存在檢驗不完整充分的問題，試驗難以重復。若試驗中干擾超標或損壞設備，需要重新評估、修改設備布置，并補做短路試驗，對エ期影響較大。由于平臺設備的布置復雜、電子設備屏蔽和接地等抗干擾措施是否良好等直接影響二次設備抗電磁干擾能力，試驗電源容量大、高空環境平臺工作存在不安全因素。目前還沒有其他現場檢查串聯電容器補償裝置二次設備抗電磁干擾能力的有效測試方法，在設備交接試驗中也無法進行該項試驗內容。
技術實現思路
基于此，有必要針對現有技術對串聯電容器補償裝置二次設備抗電磁干擾能力不能現場檢測的技術問題，提供ー種串聯電容補償裝置二次設備抗電磁干擾能力的檢測方法。ー種串聯電容補償裝置二次設備抗電磁干擾能力的檢測方法，所述串聯電容補償裝置包括并聯的電容器橋臂支路和至少ー個工作支路，，包括:斷開所述串聯電容補償裝置的電容器橋臂支路與串聯電容器補償裝置低壓母線的連接；短接其中ー個工作支路作為待檢測干擾支路；從所述電容器橋臂兩端并入可連續調整的高頻電壓源，向輸入試驗電流至預設試驗電流值；獲取所述電容器橋臂支路和所有工作支路的干擾感應電流，以及待檢測干擾支路的輸入輸出端ロ的干擾感應電壓；根據干擾感應電流、干擾感應電壓、試驗電流值和所述高頻電壓源的工作頻率，計算待檢測干擾支路的エ頻干擾電流和干擾幅值。進ー步的，所述高頻電壓源的工作頻率為1000赫茲?2500赫茲之間。進ー步的，所述串聯電容補償裝置還包括阻尼回路，所述檢測方法還包括:短接所述阻尼回路中的電抗器。進ー步的，還包括:在所述待檢測干擾支路串聯輔助電容。進ー步的，所述輔助電容的電容值根據所述待檢測干擾支路的等效電感設置。進ー步的，所述輔助電容的電容值根據如下公式計算:2r/Z_-p小于預設誤差閾值，其中，f為所述高頻電壓源的工作頻率，L為所述待檢測干擾支路的等效電感，所述C為所述輔助電容的電容值。進ー步的，所述工作支路包括限壓器支路和火花間隙觸發支路。更進一歩的，在所述火花間隙觸發支路的輸入輸出端ロ設置測量傳感器和觀點轉換模塊，當火花間隙觸發支路為待檢測干擾支路時，通過所述測量傳感器和觀點轉換模塊獲取所述火花間隙觸發支路的輸入輸出端ロ的干擾感應電壓。進ー步的，所述根據干擾感應電流、干擾感應電壓、試驗電流值和所述高頻電壓源的工作頻率，計算待檢測干擾支路的エ頻干擾電流和干擾幅值，具體如下:計算試驗電流值及高頻電壓源的工作頻率的乘積得到電流頻率參數；將干擾感應電壓除以電流頻率參數得到電壓干擾傳遞系數；將干擾感應電流除以電流頻率參數得到電流干擾傳遞系數；根據電壓干擾傳遞系數、電流干擾傳遞系數計算在工作頻率和工作電流值下待檢測干擾支路的干擾電流作為待檢測干擾支路的エ頻干擾電流；將待檢測干擾支路的干擾電流進行頻率分解計算待檢測干擾支路的エ頻干擾電流的有效值作為檢測干擾支路的干擾幅值。進ー步的，所述高頻電壓源的電壓小于或等于50伏且電源容量小于或等于5千I。本專利技術通過對現場的串聯電容補償裝置進行小范圍的改動，實現了在現場對串聯電容補償裝置二次設備抗電磁干擾能力進行檢測。【專利附圖】【附圖說明】圖1為串聯電容器補償裝置的工作原理圖；圖2為本專利技術ー種串聯電容補償裝置二次設備抗電磁干擾能力的檢測方法的エ作流程圖。圖3為本專利技術在檢測待檢測干擾支路時的等效電路。【具體實施方式】下面結合附圖和具體實施例對本專利技術做進ー步詳細的說明。 如圖2所示為本專利技術ー種串聯電容補償裝置二次設備抗電磁干擾能力的檢測方法的工作流程圖，所述串聯電容補償裝置包括并聯的電容器橋臂支路和至少ー個工作支路，包括:步驟S201，斷開所述串聯電容補償裝置的電容器橋臂支路與串聯電容器補償裝置低壓母線的連接；步驟S202，短接其中ー個工作支路作為待檢測干擾支路；步驟S203，從所述電容器橋臂兩端并入可連續調整的高頻電壓源，向輸入試驗電流至預設試驗電流值；步驟S204，獲取所述電容器橋臂支路和所有工作支路的干擾感應電流，以及待檢測干擾支路的輸入輸出端ロ的干擾感應電壓；步驟S205，根據干擾感應電流、干擾感應電壓、試驗電流值和所述高頻電壓源的エ作頻率，計算待檢測干擾支路的エ頻干擾電流和干擾幅值。其中的二次設備主要指的是工作支路中的二次設備。在其中一個實施例中，所述高頻電壓源的工作頻率為1000赫茲?2500赫茲之間。在其中一個實施例中，所述串聯電容補償裝置還包括阻尼回路，所述檢測方法還包括:短接所述阻尼回路中的電抗器。在其中一個實施例中，還包括: 在所述待檢測干擾支路串聯輔助電容。在其中一個實施例中，所述輔助電容的電容值根據所述待檢測干擾支路的等效電感設置。在其中一個實施例中，所述輔助電容的電容值根據如下公式計算:2丨本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種串聯電容補償裝置二次設備抗電磁干擾能力的檢測方法，所述串聯電容補償裝置包括并聯的電容器橋臂支路和至少一個工作支路，其特征在于，包括：斷開所述串聯電容補償裝置的電容器橋臂支路與串聯電容器補償裝置低壓母線的連接；短接其中一個工作支路作為待檢測干擾支路；從所述電容器橋臂兩端并入可連續調整的高頻電壓源，向輸入試驗電流至預設試驗電流值；獲取所述電容器橋臂支路和所有工作支路的干擾感應電流，以及待檢測干擾支路的輸入輸出端口的干擾感應電壓；根據干擾感應電流、干擾感應電壓、試驗電流值和所述高頻電壓源的工作頻率，計算待檢測干擾支路的工頻干擾電流和干擾幅值。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：唐金昆，朱堅，王奇，盧志良，顧保全，
申請(專利權)人：中國南方電網有限責任公司超高壓輸電公司檢修試驗中心，
類型：發明
國別省市：