液晶面板離子檢測裝置及檢測方法制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術(shù)涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種液晶面板離子檢測裝置，所述檢測裝置包括：基臺(tái)，用于放置待測面板以進(jìn)行測試，點(diǎn)燈機(jī)，通過信號線與待測面板連接，用于調(diào)節(jié)待測面板的灰階和頻率；亮度采集器，用于采集待測面板的亮度；亮度處理器，與所述亮度采集器連接，用于顯示和處理所述亮度采集器所采集的待測面板的亮度。本發(fā)明專利技術(shù)還公開了一種基于該檢測裝置的檢測方法。本發(fā)明專利技術(shù)可以在液晶面板正常顯示的狀態(tài)下方便快捷地測試面板內(nèi)離子的亮度變化率；進(jìn)一步地，可獲取面板內(nèi)部離子的分布，可分辨出該離子是在液晶層分布或在導(dǎo)向膜分布；更進(jìn)一步地，可測量出離子速度和濃度。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
【專利摘要】本專利技術(shù)涉及顯示
，公開了一種液晶面板離子檢測裝置，所述檢測裝置包括：基臺(tái)，用于放置待測面板以進(jìn)行測試，點(diǎn)燈機(jī)，通過信號線與待測面板連接，用于調(diào)節(jié)待測面板的灰階和頻率；亮度采集器，用于采集待測面板的亮度；亮度處理器，與所述亮度采集器連接，用于顯示和處理所述亮度采集器所采集的待測面板的亮度。本專利技術(shù)還公開了一種基于該檢測裝置的檢測方法。本專利技術(shù)可以在液晶面板正常顯示的狀態(tài)下方便快捷地測試面板內(nèi)離子的亮度變化率；進(jìn)一步地，可獲取面板內(nèi)部離子的分布，可分辨出該離子是在液晶層分布或在導(dǎo)向膜分布；更進(jìn)一步地，可測量出離子速度和濃度。【專利說明】
本專利技術(shù)涉及顯示
，特別是涉及一種。
技術(shù)介紹
液晶面板內(nèi)由于離子的存在會(huì)引發(fā)殘像、斑點(diǎn)等各種不良現(xiàn)象，測試離子的分布、濃度、遷移速度等成為分析該類不良現(xiàn)象的必需事項(xiàng)，傳統(tǒng)的測試方法一般是將液晶面板拆解后收集液晶，然后利用測試設(shè)備測試液晶中的離子濃度和種類，其存在如下問題:I)傳統(tǒng)的測試方法是將液晶面板拆解后收集液晶進(jìn)行測試的，因此無法區(qū)分離子在液晶或者配向膜中的分布，只能分別進(jìn)行分析，這不僅增加了工作量，而且影響了分析的準(zhǔn)確度。2)傳統(tǒng)的方法因?yàn)樾枰獙⒁壕姘宀鸾猓詿o法考證液晶面板在正常點(diǎn)燈狀態(tài)下離子對液晶面板的影響；3)此外在拆解和收集液晶的過程中容易造成污染，由此引入其他離子而影響分析測試，同時(shí)收集的液晶需要用專門的設(shè)備進(jìn)行分析，消耗的測試時(shí)間較長，而且測試設(shè)備成本價(jià)格昂貴，樣品的保存條件也較為苛刻；4)對于配向膜中存在的離子，傳統(tǒng)的測試方法無法進(jìn)行有效的分析測試。【
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
】(一)要解決的技術(shù)問題本專利技術(shù)要解決的技術(shù)問題是如何測量正常點(diǎn)燈狀態(tài)下的液晶面板上的離子。(二)技術(shù)方案為了解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)提供的一種液晶面板離子檢測裝置，所述檢測裝置包括:基臺(tái)，用于放置待測面板；點(diǎn)燈機(jī)，通過信號線與待測面板連接，用于調(diào)節(jié)待測面板的灰階和頻率；亮度采集器，用于采集待測面板的亮度；亮度處理器，與所述亮度采集器連接，用于顯示和處理所述亮度采集器所采集的待測面板的亮度。進(jìn)一步地，所述檢測裝置還包括箱體，所述基臺(tái)設(shè)于所述箱體內(nèi)，所述亮度采集器在所述箱體內(nèi)對待測面板進(jìn)行亮度采集，所述箱體的側(cè)壁開設(shè)有箱門。進(jìn)一步地，所述箱體的內(nèi)壁為黑色。進(jìn)一步地，所述基臺(tái)為黑色。本專利技術(shù)還提供一種基于上述的液晶面板離子檢測裝置的檢測方法，其包括以下步驟:選取待測面板；將選取的待測面板置于基臺(tái)上，利用點(diǎn)燈機(jī)調(diào)節(jié)待測面板的頻率和灰階畫面；測試待測面板點(diǎn)亮?xí)r的初始亮度，和測試待測面板點(diǎn)亮一段時(shí)間后的亮度；根據(jù)所測的亮度值計(jì)算出待測面板的亮度變化率。進(jìn)一步地，在待測面板點(diǎn)亮后，觀察待測面板的亮度變化情況，判斷離子的位置。進(jìn)一步地，由所測得的亮度變化率來計(jì)算出離子濃度。進(jìn)一步地，待測面板點(diǎn)亮后，間隔一段時(shí)間測試一次所述待測面板點(diǎn)亮后的亮度，并建立時(shí)間和亮度值的變化曲線。進(jìn)一步地，在關(guān)閉外電壓時(shí)，對所述待測面板上的離子速度進(jìn)行定性分析。進(jìn)一步地，在選取待測面板時(shí)，采用交流/直流實(shí)驗(yàn)或熱老化處理實(shí)驗(yàn)對液晶面板進(jìn)行初步分析，以排除由陣列基板而引發(fā)不良現(xiàn)象的面板。進(jìn)一步地，所述待測面板點(diǎn)亮?xí)r的灰階大于L10。進(jìn)一步地，所述待測面板點(diǎn)亮?xí)r的頻率小于或等于30HZ。(三)有益效果上述技術(shù)方案所提供的一種液晶面板離子檢測裝置及其檢測方法，可以在液晶面板正常顯示的狀態(tài)下方便快捷地測試面板內(nèi)離子的亮度變化率；進(jìn)一步地，可獲取面板內(nèi)部離子的分布，可分辨出該離子是在液晶層分布或在導(dǎo)向膜分布；更進(jìn)一步地，可測量出離子速度和濃度。【專利附圖】【附圖說明】圖1是本專利技術(shù)液晶面板離子檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本專利技術(shù)測試離子分布的流程框圖；圖3是本專利技術(shù)當(dāng)離子位于液晶層時(shí)的電壓變化分布圖；圖4是本專利技術(shù)當(dāng)離子位于液晶層時(shí)的離子偏移圖；圖5是本專利技術(shù)當(dāng)離子位于導(dǎo)向膜時(shí)的電壓變化分布圖；圖6是本專利技術(shù)當(dāng)離子位于導(dǎo)向膜時(shí)的離子偏移圖；圖7是本專利技術(shù)停止外電場后的離子和電場的分布圖；圖8是TN模式下V-T曲線。其中，1、信號線；2、箱孔；3、箱體；4、待測面板；5、基臺(tái)；6、亮度采集器；7、亮度處理器；8、箱門；9、點(diǎn)燈機(jī)。【具體實(shí)施方式】下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對本專利技術(shù)的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本專利技術(shù)，但不用來限制本專利技術(shù)的范圍。如圖1所示，本專利技術(shù)液晶面板離子檢測裝置，該檢測裝置包括:基臺(tái)5、點(diǎn)燈機(jī)9、亮度采集器6和亮度處理器7。其中，基臺(tái)5用于放置待測面板4以進(jìn)行測試，點(diǎn)燈機(jī)9通過信號線I與待測面板4連接，用于調(diào)節(jié)待測面板4的灰階和頻率；亮度采集器6用于采集待測面板4的亮度；亮度處理器7與亮度采集器6連接，用于顯示和處理亮度采集器6所采集的待測面板4的亮度，亮度處理器7將亮度采集器6所采集的亮度信號轉(zhuǎn)換成電信號，然后利用電信號對時(shí)間作圖，形成不同時(shí)間下的亮度電信號圖。本專利技術(shù)實(shí)現(xiàn)了在液晶面板正常點(diǎn)燈狀態(tài)下，對液晶面板上的離子進(jìn)行測試。優(yōu)選地，采用CA310亮度測試儀作為亮度處理器。為了保證液晶面板亮度的測試結(jié)果，避免外界的干擾，本專利技術(shù)優(yōu)選實(shí)施例的檢測裝置還包括箱體3，基臺(tái)5設(shè)于所述箱體內(nèi)，亮度采集器6在箱體3內(nèi)對待測面板4進(jìn)行亮度采集，箱體3的側(cè)壁開設(shè)有箱門8。信號線I的一端與箱體3內(nèi)的亮度采集器6連接，其另一端穿過箱體3上的箱孔2與設(shè)于箱體3外部的點(diǎn)燈機(jī)9連接。優(yōu)選地，箱門8為對開門式，以方便開啟和關(guān)閉。優(yōu)選地，箱體3的內(nèi)壁為黑色或其它隔光性較強(qiáng)的深顏色，使得箱體3具有較好的隔光性，保證箱體3內(nèi)的液晶面板的亮度不受外界光線的影響。為了保證測試的準(zhǔn)確性，避免基臺(tái)5的顏色對液晶面板的亮度造成干擾以影響測試結(jié)果，優(yōu)選地，本專利技術(shù)優(yōu)選實(shí)施例的基臺(tái)5為黑色或其它可與液晶面板的光線形成鮮明對比的顏色。結(jié)合圖1和圖2所示，本專利技術(shù)還提供一種基于上述技術(shù)方案的液晶面板離子檢測裝置的檢測方法，其包括以下步驟:步驟1、選取待測面板；由于液晶面板的殘像、斑點(diǎn)等不良現(xiàn)象可能由三種原因造成，一種是由于配向膜存在離子，一種是在液晶層上存在離子，還有一種是由于陣列基板上的TFT特性(薄膜場效應(yīng)晶體管)的不良所引起的，因此，在選取待測面板時(shí)，為了保證所選取的待測面板都是基于離子的存在所引起面板顯示的殘像、斑點(diǎn)等不良現(xiàn)象的，應(yīng)采用交流/直流實(shí)驗(yàn)(即AC/DC實(shí)驗(yàn))或熱老化處理實(shí)驗(yàn)(即Oven處理實(shí)驗(yàn))對面板進(jìn)行初步分析，以排除由陣列基板上的TFT特性引發(fā)不良現(xiàn)象的面板。選取待測面板的具體方法有以下兩種:a、采用AC/DC實(shí)驗(yàn)方法，如果AC/DC實(shí)驗(yàn)中液晶面板的亮度不良現(xiàn)象發(fā)生了變化，則可認(rèn)為這些不良現(xiàn)象是由于TFT特性所引發(fā)的，則排除該液晶面板，若無變化則認(rèn)為是由于液晶面板內(nèi)部的離子有關(guān)的，此時(shí)可選擇該液晶面板作為待測面板進(jìn)行第二步操作；b、采用Oven處理實(shí)驗(yàn)方法，若實(shí)驗(yàn)后的亮度不良現(xiàn)象不發(fā)生明顯變化可認(rèn)為是陣列基板的TFT特性有關(guān)，則排除該液晶面板，若發(fā)生了明顯的變化可認(rèn)為與液晶面板內(nèi)離子濃度有關(guān)，此時(shí)可選擇該液晶面板作為待測面板進(jìn)行第二步操作。步驟2、將選取的待測面板置于基臺(tái)上，利用點(diǎn)燈機(jī)調(diào)節(jié)待測面板的頻率和灰階畫面；將選取的待測面板置于位于箱體內(nèi)的基臺(tái)上，由于頻率越低越有利于離子的移動(dòng)，因此一般調(diào)節(jié)待測面本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種液晶面板離子檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置包括：基臺(tái)，用于放置待測面板；點(diǎn)燈機(jī)，通過信號線與待測面板連接，用于調(diào)節(jié)待測面板的灰階和頻率；亮度采集器，用于采集待測面板的亮度；亮度處理器，與所述亮度采集器連接，用于顯示和處理所述亮度采集器所采集的待測面板的亮度。

【技術(shù)特征摘要】

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：王明超，黃海琴，劉家榮，
申請(專利權(quán))人：京東方科技集團(tuán)股份有限公司，北京京東方顯示技術(shù)有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：