【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
一種臺(tái)標(biāo)識(shí)別方法及系統(tǒng)
本專利技術(shù)涉及臺(tái)標(biāo)識(shí)別領(lǐng)域,尤其涉及一種臺(tái)標(biāo)識(shí)別方法及系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
電視臺(tái)的臺(tái)標(biāo)是區(qū)分電視臺(tái)的重要標(biāo)志,臺(tái)標(biāo)包含了電視臺(tái)的臺(tái)名、節(jié)目取向等重要消息,利用計(jì)算機(jī)圖像處理識(shí)別技術(shù)自動(dòng)識(shí)別臺(tái)標(biāo)成為近年來的研究熱點(diǎn),其在電視機(jī)的日常應(yīng)用中能有效的進(jìn)行節(jié)目監(jiān)控、視頻內(nèi)容分析和檢索、用戶觀看習(xí)慣分析等。目前存在的臺(tái)標(biāo)識(shí)別方法主要有:1、利用多幀差法獲取臺(tái)標(biāo),通過模板匹配進(jìn)行識(shí)別;2、基于顏色直方圖或者形狀進(jìn)行識(shí)別等。但這些方法大多都存在對(duì)相似顏色和透明臺(tái)標(biāo)不易識(shí)別的情況,同時(shí)由于背景和噪聲的干擾,識(shí)別率較低。因此,現(xiàn)有技術(shù)還有待于改進(jìn)和發(fā)展。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,本專利技術(shù)的目的在于提供一種臺(tái)標(biāo)識(shí)別方法及系統(tǒng),旨在解決現(xiàn)有臺(tái)標(biāo)識(shí)別技術(shù)存在對(duì)相似顏色和透明臺(tái)標(biāo)不易識(shí)別、識(shí)別率較低的問題。本專利技術(shù)的技術(shù)方案如下:一種臺(tái)標(biāo)識(shí)別方法,其中,包括步驟:A、從多幅原始圖像中提取所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的正樣本和負(fù)樣本,所述正樣本為含有所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的區(qū)域圖像,所述負(fù)樣本為不含所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的區(qū)域圖像;B、對(duì)提取出的正樣本進(jìn)行特征角點(diǎn)檢測(cè),獲取正樣本的特征角點(diǎn)集合,并通過所述特征角點(diǎn)集合對(duì)正樣本中每一像素點(diǎn)出現(xiàn)特征角點(diǎn)的頻率進(jìn)行計(jì)算,獲取所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的特征角點(diǎn)概率分布矩陣;C、通過所述特征角點(diǎn)概率分布矩陣,計(jì)算每一個(gè)正樣本、負(fù)樣本的相似度,得到包含所有正樣本、負(fù)樣本相似度的相似度集,通過所述相似度集計(jì)算出所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的相似度閾值;D、通過所述特征角點(diǎn)概率分布矩陣計(jì)算出待檢測(cè)圖像包含所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的待檢測(cè)相似度,判斷待檢測(cè)相似度是否大于相似度閾值,當(dāng)是時(shí)判定 ...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種臺(tái)標(biāo)識(shí)別方法,其特征在于,包括步驟:A、從多幅原始圖像中提取所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的正樣本和負(fù)樣本,所述正樣本為含有所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的區(qū)域圖像,所述負(fù)樣本為不含所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的區(qū)域圖像;B、對(duì)提取出的正樣本進(jìn)行特征角點(diǎn)檢測(cè),獲取正樣本的特征角點(diǎn)集合,并通過所述特征角點(diǎn)集合對(duì)正樣本中每一像素點(diǎn)出現(xiàn)特征角點(diǎn)的頻率進(jìn)行計(jì)算,獲取所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的特征角點(diǎn)概率分布矩陣;C、通過所述特征角點(diǎn)概率分布矩陣,計(jì)算每一個(gè)正樣本、負(fù)樣本的相似度,得到包含所有正樣本、負(fù)樣本相似度的相似度集,通過所述相似度集計(jì)算出所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的相似度閾值;D、通過所述特征角點(diǎn)概率分布矩陣計(jì)算出待檢測(cè)圖像包含所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的待檢測(cè)相似度,判斷待檢測(cè)相似度是否大于相似度閾值,當(dāng)是時(shí)判定待檢測(cè)圖像中含有所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo),當(dāng)否時(shí)判定待檢測(cè)圖像中不含有所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種臺(tái)標(biāo)識(shí)別方法,其特征在于,包括步驟:A、從多幅原始圖像中提取所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的正樣本和負(fù)樣本,所述正樣本為含有所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的區(qū)域圖像,所述負(fù)樣本為不含所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的區(qū)域圖像;B、對(duì)提取出的正樣本進(jìn)行特征角點(diǎn)檢測(cè),獲取正樣本的特征角點(diǎn)集合,并通過所述特征角點(diǎn)集合對(duì)正樣本中每一像素點(diǎn)出現(xiàn)特征角點(diǎn)的頻率進(jìn)行計(jì)算,獲取所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的特征角點(diǎn)概率分布矩陣;C、通過所述特征角點(diǎn)概率分布矩陣,計(jì)算每一個(gè)正樣本、負(fù)樣本的相似度,得到包含所有正樣本、負(fù)樣本相似度的相似度集,通過所述相似度集計(jì)算出所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的相似度閾值;D、通過所述特征角點(diǎn)概率分布矩陣計(jì)算出待檢測(cè)圖像包含所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的待檢測(cè)相似度,判斷待檢測(cè)相似度是否大于相似度閾值,當(dāng)是時(shí)判定待檢測(cè)圖像中含有所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo),當(dāng)否時(shí)判定待檢測(cè)圖像中不含有所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的臺(tái)標(biāo)識(shí)別方法,其特征在于,所述步驟A中,對(duì)于相同臺(tái)標(biāo),每一正樣本在對(duì)應(yīng)的原始圖像中的相對(duì)位置相同,正樣本與負(fù)樣本的數(shù)量比為1:1.5~1:3.5。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的臺(tái)標(biāo)識(shí)別方法,其特征在于,所述步驟B中,獲取正樣本的特征角點(diǎn)集合的過程包括:B1、計(jì)算正樣本的方向?qū)?shù),分別保存為數(shù)組Ix和數(shù)組Iy,Ix為x方向的方向?qū)?shù),Iy為y方向的方向?qū)?shù);B2、利用高斯模板為正樣本中每一個(gè)像素點(diǎn)計(jì)算局部自相關(guān)矩陣M,其中,為高斯模板;B3、通過M計(jì)算每一個(gè)像素點(diǎn)的角點(diǎn)量矩陣I,其中,I=det(M)-k·tr2(M),其中det為矩陣的行列式,tr為矩陣的跡,k為[0.04,0.06]范圍內(nèi)的常數(shù);B4、判斷角點(diǎn)量矩陣I中的任意一點(diǎn),是否同時(shí)滿足該點(diǎn)的元素值大于一閾值,并且是該點(diǎn)領(lǐng)域內(nèi)的局部極大值,當(dāng)同時(shí)滿足時(shí),判定該點(diǎn)為正樣本的特征角點(diǎn)。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的臺(tái)標(biāo)識(shí)別方法,其特征在于,所述步驟B中,獲取所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的特征角點(diǎn)概率分布矩陣的過程具體包括:B5、計(jì)算所有正樣本中每一個(gè)像素點(diǎn)(x,y)位置出現(xiàn)特征角點(diǎn)的次數(shù)n(x,y),當(dāng)n(x,y)與正樣本總量的比例小于預(yù)定值,則判定對(duì)應(yīng)的像素點(diǎn)(x,y)不是特征角點(diǎn),并將該次數(shù)(x,y)的值歸零,否則判定為特征角點(diǎn),并保留該次數(shù)n(x,y)的值;B6、對(duì)每一像素點(diǎn)(x,y)位置上出現(xiàn)特征角點(diǎn)的頻率P(x,y)進(jìn)行歸一化操作獲得所需檢測(cè)臺(tái)標(biāo)的特征角點(diǎn)概率分布矩陣Mp(x,y),w、h為正樣本及負(fù)樣本的寬和高,每一像素點(diǎn)(x,y)位置上出現(xiàn)特征角點(diǎn)的頻率P(x,y)為當(dāng)前像素點(diǎn)(x,y)出現(xiàn)特征角點(diǎn)的次數(shù)n(x,y)與正樣本總量的比值。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的臺(tái)標(biāo)識(shí)別方法,其特征在于,所述步驟C具體包括:C1、預(yù)先設(shè)置一最小識(shí)別正確率、最大識(shí)別錯(cuò)誤率以及最大漏識(shí)別率;C2、對(duì)每一正樣本及負(fù)樣本進(jìn)行特征角點(diǎn)檢測(cè),當(dāng)檢測(cè)到正樣本或負(fù)樣本中在任一像素點(diǎn)(x,y)存在特征角點(diǎn)時(shí),則所述正樣本或負(fù)樣本在任一像素點(diǎn)(x,y)的特征角點(diǎn)信息表達(dá)式Si(x,y)=1,否則Si(x,y)=0,以獲取所有正樣本、負(fù)樣本特征角點(diǎn)集S={S0,S1,S2,......,Si......SN},其中Si為w×h的行列式,N=NumSamples+NumNegative-1,w、h為正樣本及負(fù)樣本的寬和高,NumSamples為樣本總量,NumNegative為負(fù)樣本總量;C3、通過特征角點(diǎn)概率分布矩陣獲取每一正樣本及負(fù)樣本的相似度εi,從而獲取所有正樣本及負(fù)樣本特征集ε={ε0,ε1,ε2,......,εi......εN},εi表示所有正樣本及負(fù)樣本中第i個(gè)樣本的相似度;C4、根據(jù)所述最小識(shí)別正確率、最大識(shí)別錯(cuò)誤率及最大漏識(shí)別率對(duì)所需檢測(cè)的臺(tái)標(biāo)進(jìn)行訓(xùn)練,得到所需檢測(cè)的臺(tái)標(biāo)的相似度閾值。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的臺(tái)標(biāo)識(shí)別方法,其特征在于,所述步驟C4具體包括:C41、預(yù)設(shè)一初始相似度閾值,對(duì)所有正樣本及負(fù)樣本進(jìn)行重新分類,若εi大于初始相似度閥值,則判定εi對(duì)應(yīng)的樣本為正樣本,否則判定為負(fù)樣本;C42、統(tǒng)計(jì)在對(duì)所有正樣本、負(fù)樣本重新分類情況下正確識(shí)別個(gè)數(shù)Nr、錯(cuò)誤識(shí)別個(gè)數(shù)Nw以及漏識(shí)別個(gè)數(shù)Nm,根據(jù)所述正確識(shí)別個(gè)數(shù)Nr、錯(cuò)誤識(shí)別個(gè)數(shù)Nw以及漏識(shí)別個(gè)數(shù)Nm計(jì)算出初始相似度閾值條件下的識(shí)別正確率、識(shí)別錯(cuò)誤率、漏識(shí)別率;C43、判斷在初始相似度閾值條件下,是否滿足條件:識(shí)別正確率大于最小識(shí)別正確率,識(shí)別錯(cuò)誤率小于最大識(shí)別錯(cuò)誤率,以及漏識(shí)別率小于最大漏識(shí)別率,當(dāng)滿足時(shí),轉(zhuǎn)入步驟C45,否則轉(zhuǎn)入步驟C44;C44、以預(yù)定的步長(zhǎng)對(duì)初始相似度閾值進(jìn)行更新,并返回步驟C41重新分類;C45、輸出...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:張登康,邵詩強(qiáng),付東,
申請(qǐng)(專利權(quán))人:TCL集團(tuán)股份有限公司,
類型:發(fā)明
國(guó)別省市:
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