【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
一種錐束CT散射校正方法及系統(tǒng)
本專利技術(shù)涉及一種錐束CT散射校正方法及系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
基于平板探測器的錐束CT與傳統(tǒng)的二維CT相比，具有突出的優(yōu)點(diǎn)，主要表現(xiàn)在錐束CT 一次圓周掃描周期內(nèi)，可以得到完成數(shù)百甚至上千個斷層圖像的投影，具有更高的掃描速度和輻射利用率，并有效的減少X射線管的負(fù)載輸出，降低掃描成本。另外，錐束CT能獲得更高精度的空間分辨率，可獲得與膠片投影成像的空間分辨率相媲美的三維斷層圖像數(shù)據(jù)，而對比度比其高50-ιοο倍。盡管錐束CT具有明顯的優(yōu)勢，但由于錐束CT使用大范圍的X射線平板探測器，這使得成像質(zhì)量與傳統(tǒng)CT相比較更易受到X射線散射的影響。到達(dá)探測器的散射光子，甚至能超過主射線光子。因此，在錐束CT中，散射是重建圖像質(zhì)量下降的主要原因。因散射而形成的偽影、CT數(shù)的不準(zhǔn)確等嚴(yán)重影響對重建圖像的分析與判斷。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
為了通過采 取適當(dāng)?shù)姆椒ㄏ⑸湓斐傻膫斡啊T數(shù)或投影值不準(zhǔn)確等，使重建圖像能夠真實(shí)表現(xiàn)被照物體原本的信息，本專利技術(shù)提供了一種錐束CT散射校正方法及系統(tǒng)，為實(shí)現(xiàn)上述目的本專利技術(shù)的具體方案如下:一種錐束CT散射校正方法，包括以下步驟:計算X射線經(jīng)過一衰減網(wǎng)板后在探測器上的衰減系數(shù)矩陣；在含有衰減網(wǎng)板的條件下，獲取被照物體的投影圖像f3 ；對于每一個投影圖像，進(jìn)行散射校正:I)、f3小洞P(Xi，Yi)的中心的在平板探測器上的信息進(jìn)行采樣，即得到圖像信息；2)、計算散射分布S ;3)、通過插值的方法把散射分布S擴(kuò)充到投影圖像f3大小，記為Se ；4)、計算去除散射后的圖像f=f3_Se ；通過衰減系數(shù)分布矩陣...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種錐束CT散射校正方法，其特征在于包括以下步驟：計算X射線經(jīng)過一衰減網(wǎng)板后在探測器上的衰減系數(shù)矩陣；在含有衰減網(wǎng)板的條件下，獲取被照物體的投影圖像；對于每一個投影圖像，進(jìn)行散射校正：1）、投影圖像小洞的中心的在平板探測器上的信息進(jìn)行采樣，即得到圖像信息；2）、計算散射分布；3）、通過插值的方法把散射分布擴(kuò)充到投影圖像大小；4）、計算去除散射后的圖像；通過衰減系數(shù)分布矩陣，估計出沒有衰減網(wǎng)板的情況下模體的投影圖像;使用FDK算法重建圖像。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種錐束CT散射校正方法，其特征在于包括以下步驟: 計算X射線經(jīng)過一衰減網(wǎng)板后在探測器上的衰減系數(shù)矩陣； 在含有衰減網(wǎng)板的條件下，獲取被照物體的投影圖像； 對于每一個投影圖像，進(jìn)行散射校正: 1)、投影圖像小洞的中心的在平板探測器上的信息進(jìn)行采樣，即得到圖像信息； 2)、計算散射分布； 3)、通過插值的方法把散射分布擴(kuò)充到投影圖像大小； 4)、計算去除散射后的圖像； 通過衰減系數(shù)分布矩陣，估計出沒有衰減網(wǎng)板的情況下模體的投影圖像； 使用FDK算法重建圖像。2.如權(quán)利要求1所述的錐束CT散射校正方法，其特征在于: 衰減系數(shù)矩陣算法包括以下步驟: 錐束CT系統(tǒng)在含有衰減網(wǎng)板和沒有衰減網(wǎng)板的兩種情況下進(jìn)行空曝，得到圖像和f2，通過來估計衰減網(wǎng)板上的小洞在平板探測器上的投影位置P (Xi，Yi)； 根據(jù)和f2的CT值和衰減網(wǎng)板的不同位置厚度信息，根據(jù)Bee...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：謝世朋，石漢青，趙守仁，陳方倫，曹磊，
申請(專利權(quán))人：江蘇超惟科技發(fā)展有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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