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    一種分子間相互作用的測量方法技術

    技術編號:9853996 閱讀:184 留言:0更新日期:2014-04-02 17:50
    本發明專利技術公開了一種測量分子間相互作用的方法,具體步驟為:(1)將待測相互作用體系中的一方分子A連接在納米粒子表面;(2)將納米粒子固定在微流控芯片中,記錄單個納米粒子的局域表面等離子體共振(LSPR)光譜;(3)將相互作用體系中的另一方分子B按濃度梯度分別通過納米粒子,同時記錄單個納米粒子LSPR光譜;(4)以B分子濃度為橫坐標,LSPR峰值為縱坐標做圖,按照算法公式擬合該圖得到A分子與B分子相互作用體系的結合常數,結合位點個數,最大LSPR峰值位移。測量結合常數范圍在1.0×103M-1到1.0×1010M-1之間。

    【技術實現步驟摘要】

    :本專利技術涉及,特別適用于對生物大分子間,生物大分子與小分子間相互作用的測量。
    技術介紹
    :生物分子間以相互作用的方式傳遞信號、執行功能、輸運物質等。深入了解分子間相互作用對理解生命現象,開發藥物至關重要。結合常數是定量相互作用效果的參數。通常測量結合常數的方法包括毛細管電泳法,色譜法,核磁共振法,酶聯免疫吸附分析法,石英晶體微天平法,表面等離子體共振法,等溫滴定微量熱法,微陣列芯片等方法。最近出現了將金納米顆粒用于上述方法中以提高檢測靈敏度。這些方法都是宏觀水平上的分析方法,存在適用范圍有限,試樣消耗量大,測量時間長等缺點。單個納米粒子水平上測量相互作用的方法尚未有報道。
    技術實現思路
    :本專利技術的目的在于提供一種測量分子間相互作用的方法,解決單個粒子水平上不能測量分子間相互作用的問題。本專利技術的目的是以如下技術方案實現的:一種測量分子間相互作用的方法,以光學顯微鏡為成像平臺,以光譜成像檢測器為記錄儀,以微流控芯片為樣品驅動控制裝置,以納米粒子為檢測對象,在單個納米粒子水平上測量分子間相互作用體系的結合常數、結合位點個數;具體步驟如下:(I)將待測相互作用體系中的一方分子(簡稱A分子)連接在納米粒子表面;(2)將納米粒子固定在微流控芯片中,記錄單個納米粒子的LSPR光譜λ Αρ ;(3)將相互作用體系中的另一方分子(簡稱B分子)溶液以不同濃度依次分別通過納米粒子,同時記錄單個納米粒子LSPR光譜λ ;(4)以B分子濃度為橫坐標,LSPR峰值差Λ λ = λ - λ Αρ為縱坐標做圖,按照算法公式擬合該圖即可得到A分子與B分子相互作用體系的結合常數,結合位點個數,最大LSPR峰值位移;單個納米粒子的LSPR位移隨B分子濃度的變化趨勢與相互作用體系結合常數相關。所述光學顯微鏡成像平臺是常規暗場顯微鏡、激光散射顯微鏡、LSPR顯微鏡、微型化顯微鏡;所述光譜成像檢測記錄儀是基于光柵的光譜成像儀、基于棱鏡的光譜成像儀;所述納米粒子材質是金屬納米粒子、金屬參雜納米粒子、半導體納米粒子、高分子納米粒子;所述納米粒子形狀是球形、棒形、梭形、三角形、星形、多邊形及不規則形狀;所述納米粒子尺度在IOnm — IOOOnm之間;所述分子間相互作用發生在DNA分子間、蛋白質分子與DNA分子間、蛋白質分子與蛋白質分子之間、蛋白質分子與糖分子之間、蛋白質分子與小分子之間、糖分子與DNA分子之間、糖分子與小分子之間;本文檔來自技高網...

    【技術保護點】
    一種測量分子間相互作用的方法,以光學顯微鏡為成像平臺,以光譜成像檢測器為記錄儀,以微流控芯片為樣品驅動控制裝置,以納米粒子為檢測對象,在單個納米粒子水平上測量分子間相互作用體系的結合常數、結合位點個數;具體步驟如下:(1)將待測相互作用體系中的一方分子(簡稱A分子)連接在納米粒子表面;(2)將納米粒子固定在微流控芯片中,記錄單個納米粒子的LSPR光譜λAP;(3)將相互作用體系中的另一方分子(簡稱B分子)溶液以不同濃度依次分別通過納米粒子,同時記錄單個納米粒子LSPR光譜λ;(4)以B分子濃度為橫坐標,LSPR峰值差Dλ=λ?λAP為縱坐標做圖,按照算法公式擬合該圖即可得到A分子與B分子相互作用體系的結合常數,結合位點個數,最大LSPR峰值位移;所述納米粒子材質是金屬納米粒子、金屬參雜納米粒子、半導體納米粒子、高分子納米粒子;所述納米粒子形狀是球形、棒形、梭形、三角形、星形、多邊形及不規則形狀;所述納米粒子尺度在10nm-1000nm之間;所述分子間相互作用體系是DNA分子與DNA分子、蛋白質分子與DNA分子、蛋白質分子與蛋白質分子、蛋白質分子與糖分子、蛋白質分子與小分子、糖分子與DNA分子、或糖分子與小分子;所述算法公式為 Δλ = Δλ max ( [ C 0 ] n α / K + [ C 0 ] n ) 其中:Δλ為有B分子通過和無B分子通過時LSPR峰值差,Δλ=λ?λAP;Δλmax為有B分子通過和無B分子通過時LSPR峰值差的最大值;α為結合了B分子的納米粒子上A分子位點個數與未結合B分子的納米粒子上A分子位點個數的比值;K為A分子與B分子的結合常數;n為A分子與B分子的結合位點個數;[C0]為B分子濃度。所述擬合圖為指數曲線,其線性區域內可以用來檢測B分子濃度;所述結合常數范圍在1.0×103M-1到1.0×1010M-1之間。...

    【技術特征摘要】
    1.一種測量分子間相互作用的方法,以光學顯微鏡為成像平臺,以光譜成像檢測器為記錄儀,以微流控芯片為樣品驅動控制裝置,以納米粒子為檢測對象,在單個納米粒子水平上測量分子間相互作用體系的結合常數、結合位點個數;具體步驟如下: (1)將待測相互作用體系中的一方分子(簡稱A分子)連接在納米粒子表面; (2)將納米粒子固定在微流控芯片中,記錄單個納米粒子的LSPR光譜λΑΡ; (3)將相互作用體系中的另一方分子(簡稱B分子)溶液以不同濃度依次分別通過納米粒子,同時記錄單個納米粒子LSPR光譜λ ; (4)以B分子濃度為橫坐標,LSPR峰值差Dλ = λ - λ ΑΡ為縱坐標做圖,按照算法公式擬合該圖即可得到A分子與B分子相互作用體系的結合常數,結合位點個數,最大LSPR峰值位移...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:蓋宏偉,董蘇利劉曉君,劉穎,李險峰,
    申請(專利權)人:江蘇師范大學,
    類型:發明
    國別省市:江蘇;32

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