一種視三維高密度電法的淺表層地質結構建模方法技術

一種視三維高密度電法的淺表層地質結構建模方法，其特征在于：所述方法包括以下步驟：(1)進行主測線、聯絡測線的高密度電法測點觀測，得到多條二維野外觀測結果；(2)對步驟(1)得到的野外觀測結果進行二維反演處理，得到二維地下電性數據：(3)對步驟(2)得到的二維地下電性數據進行靜態校正，然后進行三維擬合得到視三維觀測結果數據；(4)數據網格化，三維成像：對步驟(3)得到的所述視三維觀測結果數據進行視三維反演處理、解釋與成像，得到高密度電法的淺表層地質結構模型。

【技術實現步驟摘要】
【專利摘要】本專利技術提供了，屬于地質勘探開發中對于淺表層地質結構研究領域。所述方法包括：(1)進行主測線、聯絡測線的高密度電法測點觀測，得到多條二維野外觀測結果；(2)對步驟(1)得到的野外觀測結果進行二維反演處理，得到二維地下電性數據：(3)對步驟(2)得到的二維地下電性數據進行靜態校正，然后進行三維擬合得到視三維觀測結果數據；(4)數據網格化，三維成像：對步驟(3)得到的所述視三維觀測結果數據進行視三維反演處理、解釋與成像，得到高密度電法的淺表層地質結構模型。利用本專利技術方法得到的視三維模型客觀、真實、形象地反映了電性異常的三維地質結構。【專利說明】
本專利技術屬于地質勘探開發中對于淺表層地質結構研究領域，具體涉及。
技術介紹
高密度電法是以探測地下目標體導電性差異為基礎的一種物理勘探方法。當人工向地下加載直流電流時，在地表利用相應儀器觀測其電場分布，通過研究這種人工施加場源在地下的電性分布變化規律，來達到要解決地質問題的目的。其特點主要表現在觀測點距小、電極布設密度較大、分辨率高、施工便捷、獲取成果快，可以是二維觀測，也可以是三維觀測。目前，野外主要采用二維剖面勘探方式來研究中、淺表層地質結構，得到的是一條縱向地電剖面。由于勘探目標多為復雜交錯的各種類型的地下構造，在地下半空間具有三維展布特征，所以，僅僅依靠簡單的二維剖面圖像不能直觀精確的反映其空間分布特征，除了研究其縱向變化外，還需要了解其橫向變化特征，也就是X、Y、Z三維變化特征。理論上來講，三維高密度電法勘探需要采用IOmX IOm測網觀測，測點密集、數據量大，野外施工要求高、工作量大，如:在I平方千米范圍內進行三維勘測，測點數超過10000多個，這無疑就提高了勘探成本。國內三維高密度電法在工程上的應用，大都采用二維數據反演，李顏貴等(2006年)通過三維軟件反演，結合管線探測，對真三維高密度電法進行了探測試驗，并取得了良好的勘探效果，為三維高密度電法的進一步推廣提供了寶貴的實踐經驗。此后三維高密度電法也在小范圍得到了一些應用，如高衛富等(2011年)將三維高密度電法用于煤礦斑裂區探測。但是三維高密度電法的缺點也是顯而易見的，即工作量太大，從野外勘探實際出發，要進行大面的三維高密度電法勘測是很不現實的，因此也造成該方法推廣困難。
技術實現思路
本專利技術的目的在于解決上述現有技術中存在的難題，提供，在不增加太多工作量的情況下，部署若干聯絡測線，實行視三維淺表層地質結構建模，既具有三維高密度的特點，又不增加太多的工作量。本專利技術是通過以下技術方案實現的:，所述方法包括以下步驟:(I)進行主測線、聯絡測線(聯絡測線是垂直于主測線且布設一定線距的測線，是進行三維反演成像的多條測線，起橫向聯絡作用)的高密度電法測點觀測，得到多條二維野外觀測結果；(2)對步驟(I)得到的野外觀測結果進行二維反演處理，得到二維地下電性數據:(3)對步驟(2)得到的二維地下電性數據進行靜態校正，然后進行三維擬合得到視三維觀測結果數據；(4)數據網格化，三維成像:對步驟⑶得到的所述視三維觀測結果數據進行視三維反演處理、解釋與成像，得到高密度電法的淺表層地質結構模型。所述步驟(1)是這樣實現的:沿一條測線方向進行剖面觀測，得到一個以該測線的電阻率斷面形式顯示的二維高密度電法勘探剖面，該剖面的X軸為縱向剖面的觀測方向，Z軸為探測深度方向，即垂直于地表面向下。所述步驟(2)是這樣實現的:采用下式得出反映地下電性特征分布的地下電性數據(點)，由多組這樣的數據構成二維地下電性數據(線)。【權利要求】1.，其特征在于:所述方法包括以下步驟: (1)進行主測線、聯絡測線的高密度電法測點觀測，得到多條二維野外觀測結果； (2)對步驟(1)得到的野外觀測結果進行二維反演處理，得到二維地下電性數據: (3)對步驟(2)得到的二維地下電性數據進行靜態校正，然后進行三維擬合得到視三維觀測結果數據； (4)數據網格化，三維成像:對步驟(3)得到的所述視三維觀測結果數據進行視三維反演處理、解釋與成像，得到高密度電法的淺表層地質結構模型。2.根據權利要求1所述的視三維高密度電法的淺表層地質結構建模方法，其特征在于:所述步驟(1)是這樣實現的: 沿一條測線方向進行剖面觀測，得到一個以該測線的電阻率斷面形式顯示的二維高密度電法勘探剖面，該剖面的X軸為縱向剖面的觀測方向，Z軸為探測深度方向，即垂直于地表面向下。3.根據權利要求2所述的視三維高密度電法的淺表層地質結構建模方法，其特征在于:所述步驟(2)是這樣實現的: 采用下式得出反映地下電性特征分布的地下電性數據，由多組這樣的數據構成二維地下電性數據。 4.根據權利要求3所述的視三維高密度電法的淺表層地質結構建模方法，其特征在于:所述步驟(3)具體如下: (31)通過計算各節點的誤差，形成一個誤差等值線圖，得到各主測線的平面位置的補償值，然后利用該補償值對步驟(2)得到的二維地下電性數據進行靜態校正，以消除個別畸變點； (32)對步驟(31)得到的經過靜態校正后的二維地下電性數據進行三維擬合:根據設定的測線距離，觀測出一組平行分布的二維高密度電法勘探剖面和一組垂向聯絡測線剖面，進而構成視三維觀測結果數據。5.根據權利要求4所述的視三維高密度電法的淺表層地質結構建模方法，其特征在于:所述步驟(4)是這樣實現的:將步驟(3)得到的視三維觀測結果數據輸入到三維視圖軟件中進行視三維反演處理、解釋與成像，得到高密度電法的淺表層地質結構模型。【文檔編號】G06T17/05GK103728667SQ201210385044【公開日】2014年4月16日 申請日期:2012年10月11日 優先權日:2012年10月11日 【專利技術者】陳高, 錢美平, 敬朋貴, 楊子建, 謝紅青, 王兵, 唐冬春, 姚強, 趙理芳, 涂文權 申請人:中國石油化工股份有限公司, 中國石油化工股份有限公司勘探南方分公司本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種視三維高密度電法的淺表層地質結構建模方法，其特征在于：所述方法包括以下步驟：(1)進行主測線、聯絡測線的高密度電法測點觀測，得到多條二維野外觀測結果；(2)對步驟(1)得到的野外觀測結果進行二維反演處理，得到二維地下電性數據：(3)對步驟(2)得到的二維地下電性數據進行靜態校正，然后進行三維擬合得到視三維觀測結果數據；(4)數據網格化，三維成像：對步驟(3)得到的所述視三維觀測結果數據進行視三維反演處理、解釋與成像，得到高密度電法的淺表層地質結構模型。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：陳高，錢美平，敬朋貴，楊子建，謝紅青，王兵，唐冬春，姚強，趙理芳，涂文權，
申請(專利權)人：中國石油化工股份有限公司，中國石油化工股份有限公司勘探南方分公司，
類型：發明
國別省市：