一種采用探地雷達及靜力觸探儀聯(lián)合勘測吹填砂量的方法，在單元測區(qū)的各計劃測線上選取參照點；獲取整個吹填區(qū)吹后地形圖；采用探地雷達測各計劃測線的地質(zhì)剖面圖，記錄各參照點處吹填層與原地層分界面時窗深度；采用靜力觸探儀測得各參照點處土層的比貫入阻力隨深度變化曲線，記錄各參照點處吹填層與原地層分界面深度；計算各參照點吹填砂層介電常數(shù)，計算各測區(qū)的介電常數(shù)；將任一測區(qū)的吹填砂層介電常數(shù)輸入探地雷達數(shù)據(jù)后處理軟件，得各測線的分界面深度，計算出該測區(qū)吹填方量；計算所有測區(qū)的吹填方量，匯總得到整個吹填區(qū)吹填方量。本發(fā)明專利技術(shù)開辟了一種新的地層分層識別技術(shù)，可在缺少吹填區(qū)吹前地形資料的情況下，有效勘測吹填砂量。
【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
【專利摘要】一種，在單元測區(qū)的各計劃測線上選取參照點；獲取整個吹填區(qū)吹后地形圖；采用探地雷達測各計劃測線的地質(zhì)剖面圖，記錄各參照點處吹填層與原地層分界面時窗深度；采用靜力觸探儀測得各參照點處土層的比貫入阻力隨深度變化曲線，記錄各參照點處吹填層與原地層分界面深度；計算各參照點吹填砂層介電常數(shù)，計算各測區(qū)的介電常數(shù)；將任一測區(qū)的吹填砂層介電常數(shù)輸入探地雷達數(shù)據(jù)后處理軟件，得各測線的分界面深度，計算出該測區(qū)吹填方量；計算所有測區(qū)的吹填方量，匯總得到整個吹填區(qū)吹填方量。本專利技術(shù)開辟了一種新的地層分層識別技術(shù)，可在缺少吹填區(qū)吹前地形資料的情況下，有效勘測吹填砂量。【專利說明】
本專利技術(shù)涉及工程勘測領(lǐng)域，尤其是河道采砂管理用的吹填砂量測量方法，具體地說是一種。
技術(shù)介紹
河道采砂管理涉及面廣，兼具長期性和復(fù)雜性，難度很大，不僅事關(guān)河勢穩(wěn)定、防洪和通航安全，更事關(guān)經(jīng)濟社會和諧發(fā)展，加強采砂管理能力建設(shè)，不斷提升管理水平十分重要。運用經(jīng)濟手段對采砂行為進行調(diào)控是加強采砂管理的重要途徑，依法、合理、規(guī)范征收河道砂石資源費，是防止不合理開采和砂石資源流失的重要措施。而提高砂石資源的計量勘測技術(shù)水平將有助于合理、規(guī)范征收河道砂石資源費，進一步促進河道采砂的有效管理。目前，河道砂石資源費的征收主要是以采砂吹填的方量作為計算依據(jù)的。對吹填區(qū)域進行吹填前、后地形測量來確認(rèn)開采總量是一個較為科學(xué)的辦法，而且技術(shù)較為成熟。但是在實際工程類采砂過程中，由于種種原因，常常無法獲取到吹填區(qū)域吹填前的地形資料，這就為最后的吹填砂石方量的計算和資源費的征收帶來了困難。探地雷達及靜力觸探聯(lián)合勘測吹填砂量技術(shù)則為吹前地形資料缺失的情況下的吹填砂石方量勘測開辟了一條新的技術(shù)途徑。
技術(shù)實現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的目的是針對河道采砂管理中吹填砂石方量難以計算的問題，提出一種。某些采砂吹填工程在未履行報批手續(xù)的情況下就實施吹填施工，導(dǎo)致吹填區(qū)域的吹前地形無法獲得，僅憑吹后地形資料無法計算出吹填方量，從而無法合理征收砂石資源費。如果能夠在吹填施工已完成的情況下勘測出吹填層與原地層的分界面，就可以測算出吹填方量，從而達到了合理征收砂石資源費的目的。本專利技術(shù)的技術(shù)方案是: 一種，它包括以下步驟: (1)、在吹填區(qū)的各單元測區(qū)的各計劃測線上選取若干個參照點； (2)、獲取整個吹填區(qū)吹后地形圖； (3)、采用探地雷達沿各計劃測線測得相應(yīng)的地質(zhì)剖面圖，記錄各參照點處吹填層與原地層分界面時窗深度即反射波行程走時； (4)、采用靜力觸探儀測得各參照點處土層的比貫入阻力隨深度變化曲線，記錄各參照點處吹填層與原地層分界面深度即分層面深度； (5)、計算各參照點吹填砂層介電常數(shù)，在各測區(qū)內(nèi)，取各參照點吹填砂層介電常數(shù)的平均值作為相應(yīng)測區(qū)內(nèi)吹填砂層的介電常數(shù)；(6)、將任一測區(qū)的吹填砂層介電常數(shù)輸入探地雷達數(shù)據(jù)后處理軟件(型號可為RANDAN6.6)，依次對該測區(qū)內(nèi)各測線的地質(zhì)剖面圖進行處理，獲得各測線吹填層與原地層分界面深度，計算出該測區(qū)吹填方量(根據(jù)分界面深度計算吹填方量采用本領(lǐng)域的常規(guī)計算方法); (7)、重復(fù)步驟(6)計算所有測區(qū)的吹填方量，將各測區(qū)吹填方量匯總，計算整個吹填區(qū)吹填方量(根據(jù)各測區(qū)的吹填方量計算整個吹填區(qū)吹填方量采用本領(lǐng)域的常規(guī)計算方法)。本專利技術(shù)的步驟(1)具體包括:根據(jù)吹填區(qū)面積大小將其劃分為若干個單元測區(qū)，在各測區(qū)等間距布置若干條計劃測線，在各測線上選取若干固定點作為參照點。本專利技術(shù)中，吹填區(qū)的吹填層厚度不大于Sm，單元測區(qū)面積不大于0.1km2，各單元測區(qū)由計劃測線分開，各測區(qū)的計劃測線布置以垂直于吹填區(qū)圍堤軸線為宜，其間距不大于50m,每條測線選取作為靜力觸探測點的參照點為2~3個。本專利技術(shù)中，將吹填區(qū)平均劃分為若干個單元，如果經(jīng)調(diào)查某一單元內(nèi)原地層存在地形變化急劇的地貌，則減小該單元的面積到該地貌變化至地形平緩處為止；所述地形變化急劇的地貌包括河涌、溝槽。本專利技術(shù)的步驟(2)具體包括:采用GPS系統(tǒng)沿計劃測線進行等間距定點測量，并在各參照點處打標(biāo)記錄，對GPS測量數(shù)據(jù)采用南方CASS成圖系統(tǒng)處理獲得各測區(qū)及整個吹填區(qū)吹后地形圖。本專利技術(shù)的步驟(3)具體包括:采用探地雷達以剖面測量方式沿各計劃測線測得相應(yīng)的地質(zhì)剖面圖，并在各參照點處同樣打標(biāo)記錄，根據(jù)剖面圖數(shù)據(jù)處理后的波形特征劃分吹填層與原地層，得到吹填層與原地層分界面的時窗深度即反射波行程走時，單位:納秒。本專利技術(shù)的步驟(4)具體包括:將各單元測區(qū)計劃測線上選取的參照點作為靜力觸探測點，采用靜力觸探儀測得該處土層的比貫入阻力隨深度變化曲線，通過曲線上的顯著拐點確定觸探點吹填層與原地層分界面的深度即分層面深度，單位:米。本專利技術(shù)的步驟(5)具體包括: (a)、將靜力觸探所測參照點的分層面深度與同位置探地雷達所測時窗深度代入下述公式進行計算，得到該參照點的電磁波傳播速V，【權(quán)利要求】1.一種，其特征是它包括以下步驟: (1)、在吹填區(qū)的各單元測區(qū)的各計劃測線上選取若干個參照點； (2)、獲取整個吹填區(qū)吹后地形圖； (3)、采用探地雷達沿各計劃測線測得相應(yīng)的地質(zhì)剖面圖，記錄各參照點處吹填層與原地層分界面時窗深度即反射波行程走時； (4)、采用靜力觸探儀測得各參照點處土層的比貫入阻力隨深度變化曲線，記錄各參照點處吹填層與原地層分界面深度即分層面深度； (5)、計算各參照點吹填砂層介電常數(shù)，在各測區(qū)內(nèi)，取各參照點吹填砂層介電常數(shù)的平均值作為相應(yīng)測區(qū)內(nèi)吹填砂層的介電常數(shù)； (6)、將任一測區(qū)的吹填砂層介電常數(shù)輸入探地雷達數(shù)據(jù)后處理軟件，依次對該測區(qū)內(nèi)各測線的地質(zhì)剖面圖進行處理，獲得各測線吹填層與原地層分界面深度，計算出該測區(qū)吹填方量； (7)、重復(fù)步驟(6)計算所 有測區(qū)的吹填方量，將各測區(qū)吹填方量匯總，計算整個吹填區(qū)吹填方量。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的，其特征是步驟(1)具體包括:根據(jù)吹填區(qū)面積大小將其劃分為若干個單元測區(qū)，在各測區(qū)等間距布置若干條計劃測線，在各測線上選取若干固定點作為參照點。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的，其特征是吹填區(qū)的吹填層厚度不大于8m，單元測區(qū)面積不大于0.1km2，各單元測區(qū)由計劃測線分開，各測區(qū)的計劃測線布置以垂直于吹填區(qū)圍堤軸線為宜，其間距不大于50m，每條測線選取作為靜力觸探測點的參照點為2~3個。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的，其特征是將吹填區(qū)平均劃分為若干個單元，如果經(jīng)調(diào)查某一單元內(nèi)原地層存在地形變化急劇的地貌，則減小該單元的面積到該地貌變化至地形平緩處為止；所述地形變化急劇的地貌包括河涌、溝槽。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的，其特征是步驟(2)具體包括:采用GPS系統(tǒng)沿計劃測線進行等間距定點測量，并在各參照點處打標(biāo)記錄，對GPS測量數(shù)據(jù)采用南方CASS成圖系統(tǒng)處理獲得各測區(qū)及整個吹填區(qū)吹后地形圖。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的，其特征是步驟(3)具體包括:采用探地雷達以剖面測量方式沿各計劃測線測得相應(yīng)的地質(zhì)剖面圖，并在各參照點處同樣打標(biāo)記錄，根據(jù)剖面圖數(shù)據(jù)處理后的波形特征劃分吹填層與原地層，得到吹填層與原地層分界面的時窗深度即反射波行程走時，單位:納秒。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的，其特征是步驟(4)具體包括:將各單元測區(qū)計劃測線上選取的參照點作為靜力觸探測點，采本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護點】
一種采用探地雷達及靜力觸探儀聯(lián)合勘測吹填砂量的方法，其特征是它包括以下步驟：（1）、在吹填區(qū)的各單元測區(qū)的各計劃測線上選取若干個參照點；（2）、獲取整個吹填區(qū)吹后地形圖；（3）、采用探地雷達沿各計劃測線測得相應(yīng)的地質(zhì)剖面圖，記錄各參照點處吹填層與原地層分界面時窗深度即反射波行程走時；（4）、采用靜力觸探儀測得各參照點處土層的比貫入阻力隨深度變化曲線，記錄各參照點處吹填層與原地層分界面深度即分層面深度；（5）、計算各參照點吹填砂層介電常數(shù)，在各測區(qū)內(nèi)，取各參照點吹填砂層介電常數(shù)的平均值作為相應(yīng)測區(qū)內(nèi)吹填砂層的介電常數(shù)；?（6）、將任一測區(qū)的吹填砂層介電常數(shù)輸入探地雷達數(shù)據(jù)后處理軟件，依次對該測區(qū)內(nèi)各測線的地質(zhì)剖面圖進行處理，獲得各測線吹填層與原地層分界面深度，計算出該測區(qū)吹填方量；（7）、重復(fù)步驟（6）計算所有測區(qū)的吹填方量，將各測區(qū)吹填方量匯總，計算整個吹填區(qū)吹填方量。
【技術(shù)特征摘要】
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：黃俊友，趙鋼，徐毅，王茂枚，朱大棟，石銀濤，蔡軍，陳楠，
申請(專利權(quán))人：江蘇省水利科學(xué)研究院，
類型：發(fā)明
國別省市：江蘇;32
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