饋通線圈組件、帶有饋通線圈組件的測試裝置和測試方法制造方法及圖紙

一種用于應用在用于借助于渦流以饋通方法測試長形產品的測試裝置中的饋通線圈組件(100)具有帶有激勵線圈(122)的激勵線圈組件(其包圍用于沿著饋通方向(192)引導長形產品(190)穿過的通過口(112))和圍繞通過口布置的接收線圈組件。接收線圈組件具有分布在通過口(112)的周緣上的兩個或更多個部段線圈組件(142-1至142-8)，其中，每個部段線圈組件具有檢測區域，其僅覆蓋長形產品的表面的周緣的一周緣截段。部段線圈組件(142-1至142-8)以與饋通線圈組件的參考軸線(114)的不同的距離(A1，A2)分布在包圍通過口的至少兩個殼上(S1，S2)。在此，第一部段線圈組件(142-1至142-4)無相互重疊地布置在第一殼(S1)上并且第二部段線圈組件(142-5至142-8)無相互重疊地布置在第二殼(S2)上。第一和第二部段線圈組件在周向上彼此在周緣上錯位地布置成使得第二部段線圈組件檢測不被第一部段線圈組件覆蓋的周緣截段。

【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】饋通線圈組件、帶有饋通線圈組件的測試裝置和測試方法
本專利技術涉及一種用于應用在用于借助于渦流(Wirbelstrom)以饋通方法(Durchlaufverfahren)測試長形產品(Langprodukt)的測試裝置(Prüfvorrichtung)中的饋通線圈組件(Durchlaufspulenanordnung)、涉及一種用于借助于渦流測試長形產品的測試方法以及涉及一種帶有這樣的饋通線圈組件的測試裝置。
技術介紹
長形產品是長形伸延的金屬物品，例如金屬線(Draht)、棒、桿或管等。這樣的長形產品可用作用于高品質的最終產品的原材料并且經常受到最高的質量要求。對材料缺陷、例如對接近表面的裂縫、縮孔(Lunker)、疤或其它材料不均勻性(以下也稱缺陷或瑕疵)的測試形成該產品的質量控制的重要部分。在此，通常追求帶有較高分辨率(Aufl?sung)的材料表面的盡可能無隙的測試，其根據在制造地點處的可能性應能夠有節奏地且以制造過程的速度執行。目前常常在利用電磁方法、尤其渦流技術的情況下以饋通方法來執行這樣的測試。在以饋通方法的測試中，使待測試的對象(測試對象、測試件(Prüfling))以可預設的、必要時相對高的通過速度移動通過測試裝置的裝備有相應的傳感機構(Sensorik)的測試截段并且在此被測試。在以渦流方法的無破壞的材料測試中，通過以交變電流運行的激勵線圈(Erregerspule)在待測試的材料中感應出合適的方向、大小和頻率的交變電流(渦流)并且借助于傳感器、例如線圈組件來檢測和評估產生的渦流的不規則性。在渦流測試中利用該效果，即在能導電的材料中的大多數污物或缺陷具有與測試材料本身不同的導電能力和/或不同的導磁性(Permeabilitaet)。待評估的測量信號尤其由測試件材料的傳導能力和導磁性且由在渦流傳感器與材料表面之間的距離來確定，其中，隨著傳感器與材料表面的距離增加，缺陷信號(Fehlersignal)的絕對強度以及在有效信號與干擾信號之間的比例(有效/干擾比，S/N比率)減小。在用于饋通方法的測試裝置的類別中使用包圍測試對象的饋通線圈組件，待測試的對象(長形產品)被引導穿過其。饋通線圈組件具有帶有激勵線圈的激勵線圈組件，其包圍用于沿著饋通方向(Durchlaufrichtung)引導長形延伸的對象穿過的通過口(Durchlass?ffnung)。激勵線圈組件具有用于激勵線圈聯接到交變電壓源處的聯接裝置。此外，設置有圍繞通過口布置的接收線圈組件(Empf?ngerspulenanordnung)，其具有用于接收線圈組件聯接到測試裝置的評估裝置處的聯接裝置。激勵線圈組件和接收線圈組件經由聯接裝置被聯接到測試裝置的電氣或電子元件處。這樣的圍繞的饋通線圈組件通常可相對成本有利地制造并且由于其堅固性也能可靠地且經濟地使用在艱苦的環境條件下。在文件DE10135660C1中說明了一個這種類型的饋通線圈組件，利用其應能以經濟的方式可靠地找到軌道式的(bahnartig)缺陷、確保清楚的缺陷分辨率并且保證測試結果的良好的可重復性。饋通線圈組件具有在外側包圍待測試的對象的測量元件，其以由在差動或多差動電路(Multidifferenzschaltung)中的導體條(Streifenleiter)構成的以平均的徑向距離圓環形地圍繞該對象的至少三個部段-測量線圈的形式。這些部段-測量線圈在周向上以其彼此相鄰的端部截段相疊并且與多通道評估電子裝置(Mehrkanalauswerteelektronik)相聯結。此外，部段-測量線圈被絕對線圈(Absolutspule)圍繞，其在其方面又被與所有測量線圈相關聯的激勵線圈圍繞。絕對線圈可在結構匹配部段-測量線圈的情況下同樣來分段，其中，那么部段-絕對線圈以其端部截段相疊。因為部段-測量線圈的線圈有效面積在周向上相疊，應以相同的靈敏性獲得待測試的對象的表面的真正100%的覆蓋。
技術實現思路
本專利技術的目的是提供一個這種類型的用于應用在用于以饋通方法測試長形產品的測試裝置中的饋通線圈組件，其在成本有利且結構堅固的情況下可提供關于在通過的測試對象中的缺陷和其它不規則性的有說服力的測試結果。另一目的是提供一種測試方法以及一種測試裝置，其利用這樣的饋通線圈組件工作。為了實現該目的，提供一種用于應用在用于借助于渦流以饋通方法測試長形產品的測試裝置中的饋通線圈組件，其包括：帶有激勵線圈的激勵線圈組件，其包圍用于沿著饋通方向引導長形產品穿過的通過口，其中，所述激勵線圈組件具有用于所述激勵線圈聯接到交變電壓源處的聯接裝置；和圍繞所述通過口布置的接收線圈組件，其具有用于所述接收線圈組件聯接到所述測試裝置的評估裝置處的聯接裝置，其中，所述接收線圈組件具有分布在所述通過口(112)的周緣上的兩個或更多個部段線圈組件，其中，每個部段線圈組件具有檢測區域，其僅覆蓋所述長形產品的表面的周緣的一周緣截段，其特征在于，所述部段線圈組件以與所述饋通線圈組件的參考軸線的不同的距離分布在包圍所述通過口的至少兩個殼上，其中，第一部段線圈組件無相互重疊地布置在第一殼上并且，第二部段線圈組件無相互重疊地布置在第二殼上，并且第一和第二部段線圈組件在周向上彼此在周緣上錯位地布置成使得所述第二部段線圈組件檢測不被所述第一部段線圈組件覆蓋的周緣截段。。此外，提供一種用于測試長形產品的測試方法，在其中使長形產品沿著饋通方向移動通過饋通線圈組件，其特征在于，應用根據本專利技術所述的饋通線圈組件。還提供一種用于測試長形產品的測試裝置，所述長形產品沿著饋通方向被移動通過饋通線圈組件，其特征在于，所述測試裝置具有按照本專利技術的饋通線圈組件并且/或者構造用于執行按照本專利技術的測試方法。本專利技術還給出了有利的改進方案。全部有利的改進方案通過參考說明書的內容來做出。接收線圈組件具有分布在通過口的周緣上的兩個或更多個部段線圈組件。部段線圈組件的每個具有檢測區域，其僅覆蓋長形產品的表面的整個周緣的一部分、即一周緣部段。這樣的饋通線圈組件具有對兩個或更多個部段線圈組件(其僅分別覆蓋測試件的周緣的一部分或一部段)的共同激勵。由各個部段線圈組件提供的所有信號即基于共同的激勵并且就此而言直接彼此可比。同時使接收線圈組件能夠分段或劃分成多個部段線圈組件，即可使出現的缺陷信號與對象表面的一定的周緣截段相關聯。因此，缺陷的定位不僅如在傳統的饋通線圈組件中那樣在對象的縱向中可能而且在周向上可能。傳統的饋通線圈組件在堅固性和可靠性方面的優點在此可保留。在所要求保護的本專利技術中設置成，部段線圈組件以與饋通線圈組件的參考軸線的不同距離分布在包圍通過口的至少兩個殼上。在此，第一部段線圈組件在周向上無相互重疊地布置在第一殼上。而第二部段線圈組件在周向上無相互重疊地布置在第二殼上。因為在殼之間在徑向上存在與參考軸線的距離，第一部段線圈組件具有不同于第二部段線圈組件的與參考軸線的距離。概念“殼”在此表示在周向上圍繞參考軸線伸延的面，其面部段平行于參考軸線取向并且在周向上逐段地或連續地彎曲。面與參考軸線的徑向距離跟隨預設的距離函數。因為殼的所有部段線圈組件位于該殼上，與參考軸線的徑向距離在殼的每個部段線圈組件的任何部位處經由距離函數精確地來定義。殼的部段線圈組件無相互重疊地本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】2012.02.23 DE 102012202800.5;2012.12.05 EP 12195741.一種用于應用在用于借助于渦流以饋通方法測試長形產品的測試裝置中的饋通線圈組件(100)，其包括：帶有激勵線圈(122)的激勵線圈組件，其包圍用于沿著饋通方向(192)引導長形產品(190)穿過的通過口(112)，其中，所述激勵線圈組件具有用于所述激勵線圈聯接到交變電壓源(130)處的聯接裝置；和圍繞所述通過口布置的接收線圈組件，其具有用于所述接收線圈組件聯接到所述測試裝置的評估裝置(150)處的聯接裝置(148)，其中，所述接收線圈組件具有分布在所述通過口(112)的周緣上的兩個或更多個部段線圈組件(142-1至142-8,742-1至742-8)，其中，每個部段線圈組件具有檢測區域，其僅覆蓋所述長形產品的表面的周緣的一周緣截段，其特征在于，所述部段線圈組件(142-1至142-8,742-1至742-8)以與所述饋通線圈組件的參考軸線(114)的不同的距離(A1,A2)分布在包圍所述通過口的至少兩個殼上(S1,S2)，其中，第一部段線圈組件(142-1至142-4,742-1至742-4)無相互重疊地布置在第一殼(S1)上并且，第二部段線圈組件(142-5至142-8,742-5至742-8)無相互重疊地布置在第二殼(S2)上，并且第一和第二部段線圈組件在周向上彼此在周緣上錯位地布置成使得所述第二部段線圈組件檢測不被所述第一部段線圈組件覆蓋的周緣截段。2.根據權利要求1所述的饋通線圈組件，其特征在于，第一部段線圈組件(142-1至142-4)以與中央的參考軸線的第一徑向距離(A1)布置在圓柱狀的第一殼(S1)上而所述第二部段線圈組件(142-5至142-8)以不同于所述第一徑向距離的與中央的所述參考軸線的第二徑向距離(A2)布置在圓柱狀的第二殼(S2)上。3.根據權利要求1所述的饋通線圈組件，其特征在于，所述殼(S1,S2)具有不同于圓形的橫截面形狀。4.根據權利要求3所述的饋通線圈組件，其特征在于，所述殼(S1,S2)具有橢圓的橫截面形狀、卵形的橫截面形狀或多邊形的橫截面形狀。5.根據權利要求3所述的饋通線圈組件，其特征在于，所述殼(S1,S2)具有帶有倒圓的角區域的方形的橫截面形狀。6.根據權利要求1至5中任一項所述的饋通線圈組件，其特征在于，在一個殼上(S1,S2)上布置有偶數個部段線圈組件并且/或者在一個殼、多個殼或所有殼上設置有至少一對在直徑上相對而置的部段線圈組件。7.根據權利要求1至5中任一項所述的饋通線圈組件，其特征在于，在每個殼(S1,S2)上布置有偶數個部段線圈組件并且/或者在一個殼、多個殼或所有殼上設置有至少一對在直徑上相對而置的部段線圈組件。8.根據權利要求1至5中任一項所述的饋通線圈組件，其特征在于，所有部段線圈組件(142-1至142-8,742-1至742-8)分別具有差動線圈組件。9.根據權利要求8所述的饋通線圈組件，其特征在于，所述差動線圈組件布置成使得能夠在長形產品的整個...

【專利技術屬性】
技術研發人員：M貝克，F哈迪奇，S科赫，
申請(專利權)人：霍釋特博士有限兩合公司，
類型：
國別省市：