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本發明提供一種平板探測器的壞點校正方法，是對平板探測器進行壞點識別，將壞點分為第一類壞點和第二類壞點，并分別采取不同的方法校正第一類壞點和第二類壞點。此方法分別對相對獨立的壞點和相對集中的壞點采取不同的方法進行校正，可以降低校正難度，提高校...
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