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本發(fā)明提出一種半導(dǎo)體激光器陣列單巴實(shí)時(shí)測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法，能夠簡(jiǎn)便、有效地實(shí)現(xiàn)陣列工作狀態(tài)下單巴功率和/或光譜的測(cè)試。該半導(dǎo)體激光器陣列單巴實(shí)時(shí)測(cè)試系統(tǒng)，包括半導(dǎo)體激光器陣列、光接收器、光束導(dǎo)光分離器和拖動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述光束導(dǎo)光分離器設(shè)置于半導(dǎo)...該專利屬于西安炬光科技股份有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)西安炬光科技股份有限公司授權(quán)不得商用。