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本發(fā)明涉及一種寬帶饋源的優(yōu)化設(shè)計(jì)方法，其特征在于：所述寬帶饋源的優(yōu)化設(shè)計(jì)方法，突破了一般方法中將照射角、照射電平作為反射面與饋源接口進(jìn)行設(shè)計(jì)的思路，將饋源代入具體的反射面天線系統(tǒng)中進(jìn)行設(shè)計(jì)，以反射面天線的增益或G/T值作為評價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。從而在根...該專利屬于中國電子科技集團(tuán)公司第五十四研究所所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過中國電子科技集團(tuán)公司第五十四研究所授權(quán)不得商用。