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本發(fā)明提供一種基于可見光定位技術(shù)的形變監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，包括信號(hào)控制模塊、可見光發(fā)射模塊、主探測(cè)器、次級(jí)探測(cè)器和信號(hào)處理模塊；可見光發(fā)射模塊為可見光源；信號(hào)控制模塊驅(qū)動(dòng)可見光源按一定的規(guī)律點(diǎn)亮；在待監(jiān)測(cè)地有監(jiān)測(cè)點(diǎn)，每個(gè)監(jiān)測(cè)點(diǎn)上設(shè)有主探測(cè)器和次級(jí)探測(cè)...該專利屬于武漢理工大學(xué)所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過武漢理工大學(xué)授權(quán)不得商用。