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公開了用于診斷包含多個節點的集成電路（２０）中的橋接缺陷的方法、系統和計算機程序產品。在多個測試矢量（３０）下測量（４０）集成電路（ＩＣ）的靜態電源電流（Ｉ↓［ＤＤＱ］）。還在所述多個測試矢量（３０）下獲得ＩＣ（２０）上的節點的邏輯狀態。節...
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