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本實用新型公開了一種用開爾文測試方法的組件連接頭，涉及到芯片測試領域，包括連接座和設置于連接座一側的連接塊，連接座的另一側中部開設有凹槽，凹槽的內部設置有測試頭，連接座的一側兩端均開設有導向槽，連接座的兩端外側壁上均開設有卡槽，連接塊的一側...該專利屬于無錫源創智能光電科技有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過無錫源創智能光電科技有限公司授權不得商用。
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本實用新型公開了一種用開爾文測試方法的組件連接頭，涉及到芯片測試領域，包括連接座和設置于連接座一側的連接塊，連接座的另一側中部開設有凹槽，凹槽的內部設置有測試頭，連接座的一側兩端均開設有導向槽，連接座的兩端外側壁上均開設有卡槽，連接塊的一側...