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本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N用于產(chǎn)品缺陷檢測(cè)的方法、產(chǎn)品缺陷檢測(cè)裝置及電子設(shè)備。本申請(qǐng)中，將目標(biāo)產(chǎn)品的多個(gè)缺陷樣本圖片和多個(gè)合格樣本圖片按照目標(biāo)增強(qiáng)方式進(jìn)行數(shù)據(jù)增強(qiáng)，得到多個(gè)目標(biāo)缺陷樣本圖片；然后，將多個(gè)缺陷樣本圖片和多個(gè)目標(biāo)缺陷樣本圖片輸入至初始檢測(cè)網(wǎng)...該專利屬于正泰集團(tuán)研發(fā)中心（上海）有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)正泰集團(tuán)研發(fā)中心（上海）有限公司授權(quán)不得商用。