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本技術(shù)涉及集成電路芯片檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種集成電路芯片檢測(cè)裝置，包括檢測(cè)箱，所述檢測(cè)箱的內(nèi)部靠下處固定設(shè)置有輸送帶，所述輸送帶的上端面呈等間距狀固定連接有多個(gè)凸條，所述檢測(cè)箱的內(nèi)部上端面一側(cè)固定連接有控制框，所述控制框的兩側(cè)內(nèi)壁靠下處均...該專(zhuān)利屬于容泰半導(dǎo)體（江蘇）有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)容泰半導(dǎo)體（江蘇）有限公司授權(quán)不得商用。