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本發明公開了一種基于狄拉克半金屬的電磁干擾屏蔽材料的調控方法，包括：步驟一：在襯底基片上制備狄拉克半金屬薄膜；步驟二：利用太赫茲時域光譜系統對固有太赫茲電磁干擾屏蔽效率檢測；步驟三，利用不同抽運光能量密度調控狄拉克半金屬薄膜的電磁干擾屏蔽效...
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