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本申請公開了一種晶圓測試結果處理方法、裝置、設備及存儲介質。其中，方法包括步驟：根據晶圓測試結果生成第一測試結果圖，第一測試結果圖包括：多個第一芯片和多個第二芯片；其中，第一芯片為通過晶圓測試的芯片，第二芯片為未通過晶圓測試的芯片；根據第二...該專利屬于普冉半導體（上海）股份有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過普冉半導體（上海）股份有限公司授權不得商用。
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