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目的在于提供用于以非侵襲的方式對(duì)電解槽具有的電極中包含的稀有金屬的殘留量進(jìn)行評(píng)價(jià)的裝置和方法。一種裝置，其具有管理部，該管理部基于具備一個(gè)或多個(gè)電解單元的電解槽的運(yùn)轉(zhuǎn)歷史信息，來(lái)記錄所述電解單元具有的電極的使用歷史信息。...該專利屬于旭化成株式會(huì)社所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)旭化成株式會(huì)社授權(quán)不得商用。