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本發(fā)明公開(kāi)了一種確定試樣的折射率分布的方法，包括：從輻射源發(fā)出輻射束，該輻射束穿過(guò)實(shí)際試樣，然后朝向輻射檢測(cè)器行進(jìn)，其中，實(shí)際試樣包括M個(gè)實(shí)際試樣區(qū)，輻射檢測(cè)器包括N個(gè)傳感元件，其中，M和N為大于1的整數(shù)；使用輻射檢測(cè)器，基于實(shí)際試樣和輻射...該專利屬于深圳幀觀德芯科技有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)深圳幀觀德芯科技有限公司授權(quán)不得商用。