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本申請公開了一種半導體器件及其制造方法。本申請的半導體器件通過在晶體管內(nèi)部體接觸區(qū)引出體線，以體線作為載流子通道，對不同的垂直晶體管感應出的載流子進行傳輸。從而在較寬的柵控電壓范圍內(nèi)具有極低的關(guān)態(tài)電流，有效減少半導體結(jié)構(gòu)的浮體效應，防止寄生...該專利屬于中國科學院微電子研究所所有，僅供學習研究參考，未經(jīng)過中國科學院微電子研究所授權(quán)不得商用。