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本發明公開了高動態背景光強變化下的相機曝光時間控制方法，本發明旨在解決光學測量中由于環境光強變化導致的相機過曝問題。該方法包括搭建測試系統，設置相機幀率；設置初始曝光時間，拍攝被測物圖像，獲得最佳灰度；調整信號處理電路的參數；啟動待測設備，...
該專利屬于天目山實驗室所有，僅供學習研究參考，未經過天目山實驗室授權不得商用。

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