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本發(fā)明屬于天線環(huán)境效應(yīng)參數(shù)測試領(lǐng)域，具體涉及一種用于天線環(huán)境效應(yīng)參數(shù)測試的幅相校準(zhǔn)方法。所述方法通過對標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)天線有、無保溫透波罩下的兩組多維矢量數(shù)據(jù)測量，獲取基礎(chǔ)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)；通過對基礎(chǔ)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的矢量運算，得到透波罩插損補償因子S<su...該專利屬于中電科思儀科技股份有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過中電科思儀科技股份有限公司授權(quán)不得商用。