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本發(fā)明公開了一種集成電路的形式驗證方法，包括：獲取待驗證的屬性，并依次分析每一個屬性；若不存在已分析的屬性，或者當前屬性與已分析的屬性的無關聯關系，則直接為當前屬性生成其對應的影響錐，并記錄信號集；若當前屬性與已分析的屬性互為關聯屬性，則判...該專利屬于深圳國微福芯技術有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過深圳國微福芯技術有限公司授權不得商用。
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