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本發明提出一種用于極片檢測的自動ROI方法及系統。該方法包括：統計極片圖像的灰度直方圖；基于灰度直方圖，分別獲取背景灰度、涂層灰度、箔材灰度；基于背景灰度、涂層灰度、箔材灰度的灰度值關系，判斷極片圖像是否合格；若合格，則基于背景灰度、涂層灰...該專利屬于合肥埃科光電科技股份有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過合肥埃科光電科技股份有限公司授權不得商用。
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本發明提出一種用于極片檢測的自動ROI方法及系統。該方法包括：統計極片圖像的灰度直方圖；基于灰度直方圖，分別獲取背景灰度、涂層灰度、箔材灰度；基于背景灰度、涂層灰度、箔材灰度的灰度值關系，判斷極片圖像是否合格；若合格，則基于背景灰度、涂層灰...