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本發明公開了一種基于電子突觸陣列的神經網絡測試系統，包括控制系統、陣列測試電路板和電子突觸陣列，控制系統為包含ARM模塊和FPGA模塊的SoC開發板，能夠可重構地寫入陣列測試和存內計算程序；陣列測試電路板包含模數/數模轉換模塊和多路選擇器模...
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