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本發明公開了一種基于相位匹配和全局標志點拼接的復雜構件大視場測量方法，屬于三維測量領域。包括小視場高空間分辨率雙目條紋投射局部測量系統，基于外差多頻相移原理及高動態測量實現構件表面單視場高精度點云數據獲??；大視場低空間分辨率系統，用于跟蹤定...該專利屬于北京航空航天大學青島研究院所有，僅供學習研究參考，未經過北京航空航天大學青島研究院授權不得商用。
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本發明公開了一種基于相位匹配和全局標志點拼接的復雜構件大視場測量方法，屬于三維測量領域。包括小視場高空間分辨率雙目條紋投射局部測量系統，基于外差多頻相移原理及高動態測量實現構件表面單視場高精度點云數據獲??；大視場低空間分辨率系統，用于跟蹤定...