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本技術涉及芯片測試技術領域，公開一種集成電路芯片的測試工裝，包括工作臺，工作臺頂部中間位置固定連接有U型測試臺，工作臺頂部中間位置靠近后端處開設有矩形孔，U型測試臺底部固定連接有四個限位桿，且四個限位桿底部均穿過矩形孔，四個限位桿圓周表面滑...
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