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本發明公開了一種基于三維點云數據的工業表面缺陷檢測方法，首先對輸入的三維點云數據進行噪聲去除和點云降采樣，再通過多個前景提取器對預處理后的點云數據進行分析，提取出候選缺陷點集；接著，通過多個空間聚類器將提取的候選缺陷點集進行空間聚類，生成多...
該專利屬于航天材料及工藝研究所所有，僅供學習研究參考，未經過航天材料及工藝研究所授權不得商用。

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