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本發明屬于電子工程中評估稀有事件的方法領域，具體涉及一種應用于電子工程中高Sigma場景的失效區域評估方法。應用于電子工程中高Sigma場景的失效區域評估方法，包括以下步驟：建立初始樣本、建立預測模型、篩選高風險樣本、仿真高風險樣本并計算偏...
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