溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。
本發(fā)明涉及一種基于紫外成像儀的放電缺陷檢測方法及系統(tǒng)，屬電力檢測領域。其中，該方法包括將入射光分為兩路，分別進入可見成像模塊和紫外成像模塊并獲取可見光圖像和日盲紫外圖像；通過改進圖像融合法融合可見光圖像和日盲紫外圖像得到放電缺陷圖像；通過放...該專利屬于上海紫紅光電技術有限公司所有，僅供學習研究參考，未經(jīng)過上海紫紅光電技術有限公司授權不得商用。
溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。
本發(fā)明涉及一種基于紫外成像儀的放電缺陷檢測方法及系統(tǒng)，屬電力檢測領域。其中，該方法包括將入射光分為兩路，分別進入可見成像模塊和紫外成像模塊并獲取可見光圖像和日盲紫外圖像；通過改進圖像融合法融合可見光圖像和日盲紫外圖像得到放電缺陷圖像；通過放...