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本發(fā)明公開了一種納米顆粒高信噪比暗場散射顯微成像方法，包括：采用一束與散射光具有固定頻率差的參考光形成拍頻干涉，并在時間堆棧中選取合適時刻形成最大散射對比度的干涉相長；搭建基于外差干涉的納米顆粒暗場散射顯微鏡成像系統(tǒng)，通過系統(tǒng)的傳感器對圖像...該專利屬于復旦大學所有，僅供學習研究參考，未經(jīng)過復旦大學授權不得商用。
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本發(fā)明公開了一種納米顆粒高信噪比暗場散射顯微成像方法，包括：采用一束與散射光具有固定頻率差的參考光形成拍頻干涉，并在時間堆棧中選取合適時刻形成最大散射對比度的干涉相長；搭建基于外差干涉的納米顆粒暗場散射顯微鏡成像系統(tǒng)，通過系統(tǒng)的傳感器對圖像...