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本申請(qǐng)涉及一種開(kāi)短路測(cè)試裝置及開(kāi)短路測(cè)試設(shè)備，該裝置包括：第一連接器，包括繞預(yù)設(shè)軸線間隔布設(shè)的多個(gè)第一連接引腳，第一連接引腳與芯片的多個(gè)待測(cè)引腳中對(duì)應(yīng)待測(cè)引腳電連接；第二連接器，包括多個(gè)第二連接引腳，第二連接引腳與對(duì)應(yīng)第一連接引腳電連接；驅(qū)...該專利屬于業(yè)泓科技(成都)有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)業(yè)泓科技(成都)有限公司授權(quán)不得商用。