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本公開提供了儀控卡件的故障緩解設(shè)計方法、系統(tǒng)、設(shè)備、存儲介質(zhì)，所述故障緩解設(shè)計方法，包括：獲取所述儀控卡件的初始模型；對所述初始模型進(jìn)行失效模式與影響分析，以確定所述初始模型中的目標(biāo)元件；針對所述目標(biāo)元件進(jìn)行故障緩解設(shè)計，并將經(jīng)過故障緩解設(shè)...該專利屬于上海核工程研究設(shè)計院股份有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過上海核工程研究設(shè)計院股份有限公司授權(quán)不得商用。