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本發(fā)明公開了一種GaN功率器件綜合老化應(yīng)力測試系統(tǒng)及方法，旨在實現(xiàn)在一個平臺完成GaN功率器件的多種測試需求。系統(tǒng)包括上位機模塊、中央控制系統(tǒng)、主電路模塊、電源模塊、示波器、溫度控制模塊和被測器件插槽。中央控制系統(tǒng)存儲有多種測試程序，如高溫...該專利屬于廣東工業(yè)大學所有，僅供學習研究參考，未經(jīng)過廣東工業(yè)大學授權(quán)不得商用。