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本發明公開了一種輻照條件下高良率的磁性隨機存儲器系統設計方法，基于2T?2M自參考結構，結合基于漢明碼的差錯檢測和糾正電路和內建自測試?自修復系統，進行軟硬錯誤的檢測與修復，在輻照環境下抑制軟硬錯誤的發生，有效提高存儲器的良率。內建自測試?...
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