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本發(fā)明公開了一種可轉(zhuǎn)位刀片缺陷檢測方法、電子設(shè)備、介質(zhì)，包括：獲取可轉(zhuǎn)位刀片正常、缺陷樣本；構(gòu)建可轉(zhuǎn)位刀片缺陷檢測模型，并以可轉(zhuǎn)位刀片正常樣本為訓(xùn)練集；訓(xùn)練過程中包括：將可轉(zhuǎn)位刀片正常樣本經(jīng)輸入層輸入至教師編碼器，經(jīng)特征壓縮模塊得到第一、第...該專利屬于浙江大學(xué)所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過浙江大學(xué)授權(quán)不得商用。