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本發明涉及一種磁芯在快脈沖電壓下的磁芯磁化性能的測試方法及裝置，采用單位面積單匝饋入感應腔初級的脈沖電壓陡度，即Vp/(n·Se·tr)作為表征磁芯磁化磁場強度特性的特征參數，通過改變快前沿脈沖電壓發生器的充電電壓或繞組匝數，測試獲得不同特...
該專利屬于西北核技術研究所所有，僅供學習研究參考，未經過西北核技術研究所授權不得商用。

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