本發明涉及芯片老化測試技術領域，公開了一種芯片老化測試的治具控制方法、裝置及存儲介質，該方法包括：對測試治具進行參數采集，得到原始測試數據；進行控制信號分析和信號融合，將融合溫度控制指令輸入測試治具的溫控單元，得到穩態測試數據；進行多維...

本發明涉及一種探針接觸阻抗實時監測與補償方法、裝置及存儲介質。該方法：獲取包含探針接觸電阻值和接觸力的第一測量數據集，并輸入雙層深度學習神經網絡進行訓練，得到探針接觸阻抗監測模型；進行雙參數故障檢測，得到接觸狀態分類結果；基于接觸狀態分...

本技術公開了一種散熱自動檢測設備，包括工作臺，在所述工作臺上設置有測試座和機架，所述工作臺旁邊安裝有功率輸出裝置和溫度控制裝置，所述測試座分別與功率輸出裝置和溫度控制裝置電性相連，在所述機架設置有升降機構，在所述升降機構上安裝有用于放置...

本發明公開了一種探針自動清洗設備，包括升降裝置，在所述升降裝置的底部連接有連接桿，在所述連接桿的底部安裝有清洗濾袋，在所述清洗濾袋兩側設置有兩個導向裝置，所述導向裝置與清洗濾袋相連，在所述清洗濾袋上方設置有出水口，在所述出水口后端連接有...

本技術公開了一種自鎖開窗式測試座，該測試座旨在解決現有技術芯片固定過程操作負責的技術問題。該測試座包括本體，本體的頂部滑動設置有上蓋，上蓋的前后兩側中部均安裝有對芯片進行限位的鉤子，上蓋的左右兩側中部均固定安裝有頂塊，本體上且與頂塊相對...

本發明公開了一種探針自動壓合裝置，包括工作臺，在所述工作臺上設置有導向槽，在所述導向槽的兩端設置有上料位和執行位，在所述工作臺上設置有輸料機構，所述輸料機構包括第一驅動裝置和治具，所述治具頂部放置有若干個探針，所述第一驅動裝置用于驅動治...

本技術公開一種半自動電鍍設備包括電鍍架，所述電鍍架上設有水平設置的電鍍池，所述電鍍池上的旁側有若干等間距設置的電鍍升降機構，所述電鍍升降機構可帶動電鍍工件的位置在電鍍池內進行升降；每個所述電鍍升降機構內均設有電鍍攪拌機構，所述電鍍攪拌機...

本技術公開一種同軸測試座灌膠設備，包括灌膠液壓機、高頻同軸治具、模具定位結構、模具放置座和灌膠壓合結構，所述模具放置座水平設置在灌膠液壓機上，所述高頻同軸治具位于模具放置座的中心位置，所述模具定位結構位于模具放置座上，所述模具定位結構用...

本發明公開了一種探針自動轆槽裝置，包括探針固定機構和刀模，所述探針固定機構內設置有探針固定治具，所述刀模與探針固定治具的設置方向垂直，所述刀模連接有升降機構，所述升降機構用于驅動刀模進行升降移動，在所述探針固定機構的底部設置有探針橫移機...

本發明公開了一種物料成分自動檢測設備，包括傳送帶和檢測機構，所述傳送帶從檢測機構的下方穿過，所述傳送帶用于傳送柵格板，所述柵格板內的柵格放置有需要進行成分檢測的物料，所述檢測機構包括定位相機和成分檢測組件，所述定位相機位于所述成分檢測組...

本申請涉及測試探針技術領域，更具體地說，它涉及一種應用于BGA封裝芯片測試的一體式彈簧針，將彈簧針本體安裝進保護外殼內，并利用所述保護外殼內的通孔，將連接端插接于其中，又或者在保護外殼內設置凸起頂針，將連接端插接于所述凸起頂針內，且探針...

本申請涉及測試探針技術領域，更具體地說，它涉及一種滾珠頭測試探針，將該滾珠頭測試探針安裝于測試裝置中，檢測時，通過將滾珠頭測試探針整個向測試PCBA移動，直至滾珠與測試PCBA表面抵接，此時，滾珠、頂針、彈簧以及第二針管依次受到擠壓，并...

本申請涉及測試探針技術領域，更具體地說，它涉及一種旋壓測試針，將針頭抵接于待檢測物上，針管不斷對彈簧進行彈簧擠壓，同時針頭向針管內收縮，由于弧形槽的設置，使得凸起沿弧形槽方向滑動，使得針頭反向旋轉，之后外力松弛，針頭在彈簧的回復下依舊沿...

本發明公開了一種自動植針機，該植針機旨在解決現有的探針采用人工植入治具開設的孔中，由于探針尺寸精密且細小，容易折損，一致性較差，無形中便會造成探針的制造成本增加，工人的勞動強度和企業的勞務成本較高的問題。該植針機包括基座，基座的上表面左...

本發明公開了一種高速剪片設備，該設備旨在解決現有技術中采用手工剪切方式將注塑產品剪切成單個鏡片產品，勞動強度大，生產效率難于提高的問題。該設備包括底座，底座上安裝有框架，框架上開設有進料口，框架上且與進料口對應位置處固定安裝有進料機構，...

本發明公開了一種尺寸檢測設備，該設備旨在解決現有的人工檢測效率低以及存在誤差的問題，該設備包括底座，該設備包括底座，底座上對稱設置有升降機構，每個升降機構對應位置處均設置有取料盤機構，底座的中部安裝有待料機構，待料機構的兩側均設置有移動...

本發明公開了一種FA連板調焦設備，該調焦設備旨在解決現有的鏡頭模塊人工測試勞動強度大，且眼睛易疲勞，影響調焦的準確性和效率，不同的設備進行單獨檢測，需要多次轉移產品才能進行調焦動作，操作上極為不便，耗費工時，工作效率低下的問題。該調焦設...

本發明公開了一種電容器組裝點膠機，其包括機架、送料轉臺、陶瓷殼供料機構、電容供料機構、組裝上料機構、云母片貼裝機構、AB膠點膠機構以及成品擺盤下料機構，送料轉臺轉動安裝于機架，且送料轉臺配置有多個能夠在組裝上料機構、云母片貼裝機構、AB...

本發明公開了一種可調節芯片測試座蓋，包括上蓋體，所述上蓋體的頂部設置有軸孔，在所述軸孔內安裝有旋轉中軸，在所述旋轉中軸頂部設置有旋鈕盤，在所述旋轉中軸的底部設置有壓塊支撐板，在所述旋鈕盤與上蓋體之間設置有止擋裝置，當旋鈕蓋進行旋轉時，所...

本發明公開了一種NTC一體化加工設備，該設備旨在解決現有的NTC熱敏電阻有的在加工過程中加工時自動化程度低，操作復雜，比較浪費人力，進而導致如工效率低的問題。該設備包括底座，底座上安裝有進線機構，底座上且與進線機構對應位置處安裝有送線機...