本發(fā)明提供一種片上測試電路有效誤差信息的讀出方法，該裝置采用一串的記憶元件組成記憶元件串，利用記憶元件的記憶特性將暫存的誤差信息在測試節(jié)點間次序傳遞，在時鐘的驅(qū)動下，本階記憶元件的輸出會在時鐘的下一節(jié)拍成為下一階記憶元件的輸出，同時信息...

本發(fā)明提供一種低功耗高質(zhì)量占空比輸出的時鐘延遲鎖相環(huán)設(shè)計方法，在高頻電路中，對時鐘質(zhì)量要求非常高，會需要ＤＬＬ對時鐘進(jìn)行精確的延遲控制，一般在設(shè)計ＤＬＬ時，由于高質(zhì)量的電路都會需要一對差分的互補(bǔ)時鐘，因此ＤＬＬ中會通常包括兩路延遲線，但...

本發(fā)明提供一種ＰＣＲＡＭ讀取偏置電壓確定方法，根據(jù)ＰＣＲＡＭ存儲單元低阻、高阻均值及標(biāo)準(zhǔn)差，確定ＰＣＲＡＭ讀電路偏置電壓，具體實現(xiàn)步驟如下：（１）ＰＣＲＡＭ存儲單元低阻、高阻均值ｕ及標(biāo)準(zhǔn)差σ測定。（２）根據(jù)存儲陣列容量允許出錯率，計算Ｎ...